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高機能RFIDシステム RF-500シリーズ

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立上げの時間を圧倒的に短縮

立上げ・メンテナンスがスムーズ先進のテスト機能

電波を利用して交信するRFIDシステムの設置には、十分なテストが必要です。RF-500シリーズでは、交信安定度測定、交信回数測定、実行時間測定、ノイズ環境設定という4つのテスト機能を搭載し、現場テストやメンテナンスにかかる工数を大幅に削減します。テスト機能はネットワークコントローラNX-50や、設定ソフトAutoID Navigatorで操作できます。
テスト1  
交信安定度測定
テスト2  
交信回数測定
ICタグとヘッド間の交信20回毎にその成功率を測定します。ICタグとヘッドの設置位置の調整時や、ICタグの取り付け許容範囲(あそび)などを確認するときに有効です。 ICタグが交信可能エリアに入ったとき、タグが通過する間に読み書き(マクロ実行)した回数を測定します。読み書きした回数が分かるので、生産ラインへ導入時にタクトタイムが適切かどうかを判断できます。
「高機能RFID RF-500シリーズ」の説明画像 「高機能RFID RF-500シリーズ」の説明画像
テスト3  
実行時間測定
テスト4  
ノイズ環境設定
登録したマクロの実際の実行時間を測定します。測定結果では、ICタグとヘッドの交信時間とデータの処理時間を加算した時間が確認できます。 ICタグとヘッドが設置されている場所に13.56MHzの周波数帯付近のノイズがないかを調べることができます。また、ICタグをヘッドに近づけていくと、ICタグの信号強度を測定できます。
「高機能RFID RF-500シリーズ」の説明画像 「高機能RFID RF-500シリーズ」の説明画像

データの書き込みミスを防止

ライトプロテクト機能

ICタグには様々なデータを書き込むことができますが、データの中には、製品情報など固定的に利用するため、誤って消去されたり変更されたくないデータがあります。RF-500シリーズでは、そのようなデータを保護するライトプロテクト機能があります。ライトプロテクトの領域はユーザが指定できます。

FeRAM&PPS採用で長期間安心して使える

耐環境型の高性能ICタグ

小型ICタグ「RF-T5F20」と標準ICタグ「RF-T5F30」には、最新のメモリであるFeRAM(Ferroelectoric Random Access Memory:不揮発性強誘電体メモリ)を採用しました。FeRAMは電池レスで大容量(2000バイト)のデータ保持が可能です。しかもデータ書き込み時間がEEPROMの4倍速く、さらにアクセス回数100億回という長寿命なメモリです。RF-T5F20/30では、そのメモリを耐油性に優れたPPS樹脂で覆うことで、耐環境性にも考慮しました。様々な環境下で長期間安心してお使いいただける、高性能なICタグです。 「高機能RFID RF-500シリーズ」の説明画像

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