高精度2次元レーザ変位計　LJ-Gシリーズ

高精度測定を実現する独創のメカニズム

レーザ変位計で培ったキーエンステクノロジを2次元センサのメカニズムに最適化。
世界初、クラス初の新技術で高精度測定を実現します。

シリンドリカルレンズにより帯状に広げられたレーザ光が対象物の表面で拡散反射します。その反射光をE³-CMOS上に結像させ、位置・形状の変化を検出することで変位、形状を測定します。

世界初

マシンビジョン用に新開発されたE³-CMOSを採用。従来比300倍の圧倒的に広いダイナミックレンジと、信頼性の高いS/N比を実現。それにより、黒ゴム（反射光量少）や金属（反射光量大）などが混在する対象物の測定が可能になりました。

※E³-CMOSイメージセンサ
Enhanced Eye Emulation CMOS イメージセンサ

レーザ反射イメージ	受光量イメージ	プロファイルイメージ

クラス初

対象物表面をセンシングしてレーザパワーを最適に自動調整。E³-CMOSの従来比300倍のダイナミックレンジと、レーザパワーの最適化により、対象物のあらゆる状態に対応します。
※MFL：Multi Flexible Logic

2次元に反射された光を誤差なく集光するために受光レンズユニットを新たに設計しました。4枚のレンズを組み合わせたエルノスターレンズで収差を極限までなくし、2次元形状を正確にとらえることに成功しました。

このシリーズを見ている人におすすめの技術資料

このシリーズを見ている人はこんなシリーズも見ています

このシリーズに関する用語