新開発アルゴリズムと2種類の光学系で
多様なアプリケーションに対応 |
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半透明樹脂表面を高精度測定 |
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複数の透明体表面の
発光量を最適化 |
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金属表面の多重反射を排除 |
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RPD※アルゴリズム |
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マルチABLE制御 |
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MRC※アルゴリズム |
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内部まで入り込んだレーザ光が乱反射して発生する受光波形のなだらかな広がりをキャンセルして、真のピーク(Real
Peak)を検出します。
※RPD=Real Peak Detect |
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透明体の各層ごとにレーザ光量を最適化し、各々の波形を合成することで透過率や反射率の影響を受けない高精度な測定を可能にしました。
(特許出願中) |
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多重反射により複数のピークが発生した場合、直前の受光波形と比較し、より近い波形を「正しい波形」と判断します。(特許出願中)
※MRC=Multiple Reflection
Cancel |
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半透明体では、内部までレーザ光が入り込むことで乱反射が発生し、受光波形がなだらかに広がります。広がった波形の影響をキャンセルして、真のピーク(Real
Peak)を検出します。 |
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各層での反射光をそれぞれセンシングしてレーザ光量を最適化。各層の波形を合成することで高精度な厚み測定を可能にしました。 |
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多重反射により複数のピークが発生した場合、直前の受光波形と比較し、より近い波形を「正しい波形」と判断します。 |
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