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分光干渉式ウェハ厚み計 SI-F80Rシリーズ

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分光干渉式ウェハ厚み計 SI-F80Rシリーズ

即納・当日出荷CE
分光干渉計専用フリーダイヤル 0120-003-118 カタログのダウンロードはこちら

特長(1)バックグラインドテープが付いたままでも正確にウェハ厚みが可能

特長(2)パターンの影響を受けにくい

特長(3)インラインで測定可能

特長(4)ウェハ全体の厚み分布を自動でマッピング可能

クラス最高スペック

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