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多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ

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分光干渉変位タイプ 多層膜圧測定器 SI-Tシリーズ

即納・当日出荷CE
分光干渉計専用フリーダイヤル 0120-003-118 測定方法・測定データの実例はこちら「超高精細 高速・厚みプロファイル測定器のご紹介」ダウンロード

特長

ユーザ志向の簡単測定

ユーザ志向の簡単測定

材質による吸収率やしきい値設定のような煩わしい設定が不要です。

詳細はこちら

粘着層も安定測定

粘着層も安定測定

光量積算機能というキーエンス独自技術により粘着層のような荒れている面でも
安定測定が可能です。

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広い厚み測定範囲を実現

広い厚み測定範囲を実現

延伸工程などにおいて、上流から下流までさまざまな場所で使用できます。

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6種類のインターフェイスを標準装備

6種類のインターフェースを標準装備

高精度な測定データをそのまま外部へ出力できるUSBをはじめとした、デジタル通信を多く取り入れました。また、アナログ出力は入力機器に応じ±10V以内で任意に
スケーリングできます。

詳細はこちら

データ収集&簡単設定のPC専用ソフト

データ収集&簡単設定のPC専用ソフト

コントローラ内部にMAX120万点もの測定値データを蓄積することができ、
USB通信によりPC上にデータの取得が可能です。

詳細はこちら

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