【新商品情報】 “面光電”センサ「AIシリーズ」誕生! 面で検出し、絵で捉える。だから、ズレてもOK、判別も可能。詳細は こちら

単層から多層までインラインで安定測定 今まで見れなかった<厚みムラ>がわかるフィルム厚み測定器 誕生 今すぐカタログを見る

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分光干渉計専用フリーダイヤル 0120-003-118  測定方法・測定データの実例はこちら「超高精細 高速・厚みプロファイル測定器のご紹介」ダウンロード

4つの特長

1. 今まで見れなかった”厚みムラ”を見える化

”世界初”分光干渉原理

β線やX線のような透過型の測定器はスポット径が数mmと大きく、細かな厚みムラが見れませんでした。

形状測定能力の高いSI-Tシリーズは、「φ30μmの小スポットと1msの高速サンプリング」により、細かな厚みプロファイルを提供します。

TD 方向厚みプロファイル比較

2. 多層フィルム各層の厚み測定を実現

センサヘッドから、それぞれの反射面までの距離が測定できるため、内部演算を行なうことで各層の厚みが測定できます。
材質による吸収率や閾値設定のような煩わしい設定も不要です。

多層フィルム各層の厚み測定を実現

3. 粘着層も安定測定

光量積算機能というキーエンス極自技術により、粘着層のような荒れている表面でも安定測定が可能です。

粘着層も安定測定

4. シーンに合わせた3種のヘッドラインナップ

多層変位測定タイプ

SI-T10

SI-T10

長距離厚み測定タイプ

SI-T80

SI-T80

スキャン変位測定タイプ

SI-TS10

SI-TS10

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