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多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ

分光干渉変位タイプ多層膜圧測定器 SI-Tシリーズ

ユーザ志向の簡単測定

材質による吸収率やしきい値設定のような煩わしい設定が不要です。

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粘着層も安定測定

光量積算機能というキーエンス独自技術により粘着層のような荒れている面でも
安定測定が可能です。

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広い厚み測定範囲を実現

延伸工程などにおいて、上流から下流までさまざまな場所で使用できます。

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6種類のインターフェースを標準装備

高精度な測定データをそのまま外部へ出力できるUSBをはじめとした、デジタル通信を多く取り入れました。また、アナログ出力は入力機器に応じ±10V以内で任意に
スケーリングできます。

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データ収集＆簡単設定のPC専用ソフト

コントローラ内部にMAX120万点もの測定値データを蓄積することができ、
USB通信によりPC上にデータの取得が可能です。

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