多層膜厚測定器 SI-Tシリーズ

データ収集＆簡単設定のPC専用ソフト

データストレージ

コントローラ内部にMAX120 万点もの測定値データを蓄積することができ、
USB 通信によりPC上にデータの取得が可能です。
サンプリング速度や点数、外部信号によるデータ収集など、任意に設定ができます。

波形表示が可能。拡大、縮小や重ね合わせ機能に加え、カーソルによる数値読み取りなど、各種機能が備わっています。分光干渉変位タイプ多層膜圧測定器 SI-Tシリーズ

SI-Navigator Tで収集したデータは、CSV 形式で保存することによりExcelでのデータ読出しが可能です。

分光干渉変位タイプ多層膜圧測定器 SI-Tシリーズ

設定メニューにあわせて選ぶだけ。プルダウンやアイコン選択が多く、どなたでも簡単に設定ができます。

分光干渉変位タイプ多層膜圧測定器 SI-Tシリーズ

センサヘッドの受光量を256 段階で表示することができます。受光量を確認することで、対象物ごとの測定安定性の確認や、設置する際の角度調整などで工数削減に役立ちます。

【センサの設置角度が垂直な場合】反射光の多くが、センサに返っています。　【センサの設置角度がずれている場合】反射光が十分にセンサに返っていません。

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