分光干渉反射方式 SIシリーズ

選定のポイント
  1. 分解能1nmの超高精度
  2. 周囲温度の影響を受けない

反射型測定器で対象物の表面位置を測定します。分光干渉方式により、超高分解能1nmの高精度な測定を実現しました。φ2mmのマイクロセンサヘッドをラインナップし、設置スペースのない環境でも使用できます。

この商品で実現!

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