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| 物の外形をミクロン単位で計る。しかも高速で。かつてない性能を実現したカギは、光源をレーザーからLEDに変えたことにある。投光システムにLEDを、受光システムにHL-CCDを用いたシンプルな光学システムは、ユーザビリティ向上やメンテナンスフリーにも貢献。その商品力は他の追随を許さない。 |
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新開発 光学システム |
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| 測定部には均一な透過光を生みだす投光システムと、瞬時に位置情報を検出する受光システムを高い次元で融合する光学システム(intelligent measuring optical system)を新開発。クラス最高の寸法測定を実現しました。 |
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±0.06μｍ～の繰り返し精度
［ クラス最高 ］ |
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2400回/秒の高速サンプリング
［ 従来比2倍 ］ |
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| 新光学システムとD.E.プロセッサの採用により従来比２倍の高精度を実現。製品の微細化に伴う高精度ニーズに幅広く対応している。またレーザスキャニング方式のようにモータなどの駆動部がないため、長期間に渡って高い信頼性が維持される上に、スキャニング方式特有の光軸振れがなく高精度な測定が可能。 |
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HL-CCD方式の採用により従来比２倍の高速サンプリングを実現。押し出し製品の連続測定や移動ワークの測定などインラインでの測定用途でさらに信頼性を高めた。このHL-CCD方式による常時露光測定は常に平均値測定を行っているので、スキャニング方式のような検出モレがなく、一時的な外径変動も確実に検出できる。 |
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ターゲットビューワ |
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| 測定ポイントの位置合わせや測定状態確認のため、測定状況の映像をリアルタイムに表示。外形測定器初の試みは、顧客から使いやすいと好評を博している。 |
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