- 0120-122-134
形状測定レーザマイクロスコープ VK-8700/9700 GenerationII
 |
|
||||
| ||||
|
|
ここまでできるのはレーザマイクロスコープだけ |
|
前処理不要 |
|
| 対象物に対して、蒸着・切断・加工などの前処理は一切不要。 そのままの状態で観察・測定が行なえます。 |
|
高解像度・超深度 |
|
| 短波長レーザを採用し、最高18000倍の高解像度を実現するとともに、観察視野すべてに焦点が合った超深度画像で観察可能。 |
|
リアルカラー観察 |
|
| 短波長レーザと白色光源を併用することで、高解像度と色情報を両立したHDリアルカラー超深度画像での観察を実現しました。 |
|
非接触3次元測定 |
|
| 観察視野全域の3次元データをレーザで取得。非接触なので様々な対象物に対応するうえ、高精度で多彩な3次元解析が行なえます。 |
|
|
このシリーズを見ている人におすすめの技術資料
- このシリーズを見ている人はこんなシリーズも見ています
- 3Dリアルサーフェスビュー顕微鏡/VE-9800シリーズ
マイクロスコープ/顕微鏡/SEM>電子顕微鏡（SEM）
- 形状測定レーザマイクロスコープ/VK-X100/X200シリーズ
マイクロスコープ/顕微鏡/SEM>レーザマイクロスコープ
このシリーズに関する用語
![「表面粗さ計・SEM・光学顕微鏡」の問題点を解決するレーザマイクロスコープ活用法]](/ct_images/microscope/pic_book_sample19.jpg){kind=small}
- 0120-122-134
- 最近見た技術資料
- 技術資料の閲覧履歴がありません。
- あなたにおすすめの技術資料
- 技術資料を見ると、おすすめが表示されます。
- あなたにおすすめのシリーズ
- 3Dリアルサーフェスビュー顕微鏡/VE-9800シリーズ
マイクロスコープ/顕微鏡/SEM>電子顕微鏡（SEM）
- 形状測定レーザマイクロスコープ/VK-X100/X200シリーズ
マイクロスコープ/顕微鏡/SEM>レーザマイクロスコープ
- HSオールインワン蛍光顕微鏡/BZ-9000シリーズ
マイクロスコープ/顕微鏡/SEM>蛍光顕微鏡
- 高精度形状測定システム/KS-1100シリーズ
変位計/寸法測定器/投影機>3次元形状測定システム
Copyright (c) 2012 KEYENCE CORPORATION. All rights reserved.