形状解析レーザ顕微鏡 VK-X シリーズ
“レーザー光源”と“白色光源”の2つの光源を内蔵した、形状解析レーザ顕微鏡。超高解像度スキャンにより、SEMに匹敵する倍率と解像度の画像が取得できます。
- 新ツールにより表面の”違い”を見える化
- １クリックだけ・分解能0.5ナノ・観察42～28800倍
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推奨代替機種
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VK-X3000 シリーズ
レーザー共焦点・白色干渉・フォーカスバリエーションの3つの異なるスキャン原理を使い分け、さまざまな対象物を高精度に測定・解析することができます。
このページをご覧の方におすすめの「最新シリーズ」
VK-X3000 シリーズ
単純に測定値を出すだけでなく、本当に知りたい”違い”を出せる形状解析レーザ顕微鏡
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ナノ・マイクロ・ミリが一台で測れる
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トリプルスキャン方式による圧倒的な測定対応力
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高度な膜厚・薄膜・厚みの測定を実現
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レーザー顕微鏡
- 白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡 VK-X3000 シリーズ