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用途・事例
さまざまな切り口から改善事例をトピックとして紹介しています。
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「形状」
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プレス打ち抜き材の内径判別
- 改善のポイント
- 打ち抜きプレス後のワークの内径や隙間を測定します。多彩なホールド機能を使用することで最大内径の計測も可能です。
- この商品で実現できます
関連資料・カタログ
![[技術資料] 現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]](http://www.keyence.co.jp/img/solution/1075/K2717U-1060-1.gif){kind=small}
エンジンブロック高さ測定
- 改善のポイント
- 接触式センサGT2シリーズを複数台使用し、高さを測定します。アンプの演算機能を使用することで、最大値・最小値・平坦度などを測定することができます。
- この商品で実現できます
関連資料・カタログ
シャーシの歪み検出
- 改善のポイント
- 接触式センサで各ポイントの高さを測定し、歪みを検出します。分解能最大0.1μｍで高精度に検出し、異常があれば大型動作表示灯で判定状況が一目で分かります。
関連資料・カタログ
スパッタリングターゲット磨耗形状測定
- 改善のポイント
- 表面形状を高精度に計測することで、磨耗量を正確に算出することができます。
- この商品で実現できます
関連資料・カタログ
建材ボードの端面角度と幅測定
- 改善のポイント
- 成形機のダイスの磨耗や押出圧のバラツキ等によって起こる角度異常や幅異常を発見します。
- この商品で実現できます
関連資料・カタログ
IC樹脂モールドの形状測定
- 改善のポイント
- 樹脂モールドの形状を非接触で測定します。最新の計測アルゴリズムにより半透明樹脂の形状も正確に測定できます。
- この商品で実現できます
関連資料・カタログ
試験片のプロファイル測定
- 改善のポイント
- 新原理CCD方式を採用。岩石・金属・ゴムなど対象物の素材や色、表面状態に左右されず、高精度な測定が安定して行なえます。
- この商品で実現できます
関連資料・カタログ
ベアリングシールの浮き・抜け検査
- 改善のポイント
- ベアリングのシール部の組付け不良や工程飛びのポカよけに超高速・高精度レーザ変位計LK-Ｇ5000シリーズが使用されています。、ベアリングを回転させて測定する事で、シールの振れを測定する事ができます。 ワイドスポット光学系により、シール表面の粗さによる測定値のばらつきを抑え、安定した測定が可能です。
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関連資料・カタログ
BGAボール高さ測定
- 改善のポイント
- BGA基盤のそりによる半田ボールの高さの違いが高精度に測定できます。
- この商品で実現できます
関連資料・カタログ
金型の形状測定
- 改善のポイント
- 金型の形状を非接触で測定します。光量調整機能（ABLE機能）によって形状が正確に測定できます。
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関連資料・カタログ
砂型表面のうねり測定
- 改善のポイント
- 粉塵などの悪環境に左右されず正確な形状測定が行なえるため鋳造不良を未然に防止できます。
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自動車の建て付け精度測定
- 改善のポイント
- 自動車の建て付け精度を測定します。すきま幅、段差の測定が車体の色の影響を受けずに測定できます。
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基板の反り・チップの傾き検出
- 改善のポイント
- 基板の反りやチップ部品の傾きをライン上で検出するためにLJ-Gが使用されています。2次元変位センサであるため、センサを動かさずに表面形状から多点測定が可能になります。
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塗布直後の測定・判別
- 改善のポイント
- シール剤の高さ・幅・断面積を測定します。塗布直後に測定・判別できます。
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試料の形状測定
- 改善のポイント
- φ2μmの超小スポット径により、表面形状を正確にトレースできます。
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クリームはんだの印刷形状測定
- 改善のポイント
- 基板上のクリーム半田の高さ・形状を測定するために、ダブルスキャンレーザ測定器LT-9000シリーズが使用されています。最高分解能0.0１μｍにて測定することが可能です。世界初の高精度ダブルスキャン方式により、ウエット面、鏡面・Rのついた形状でも測定でき、レンズをセンサ内部で動かすことで、クリーム半田のペーストも正確に測定することができます。
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チップ実装面の形状測定
- 改善のポイント
- リアルタイムで拡大、縮小、回転など様々な表示を自在に使用することで形状観察が容易に行なえます。
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HDDヘッドの形状測定
- 改善のポイント
- φ2μmのスポット径のレーザプローブにより、微細なワークも高精度に計測できます。
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BGAの形状測定
- 改善のポイント
- プロファイル計測や平面計測など多彩な計測モードに加え、形状を直感的に観察できる3D表示機能を搭載。
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関連資料・カタログ
不織布の形状測定
- 改善のポイント
- 非接触レーザで計測するため、あらゆる対象物を計測可能です。
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