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さまざまな切り口から改善事例をトピックとして紹介しています。

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「電子部品業界」

のソリューション事例一覧

109 件中 1-50 件表示

チップ部品の吸着ミス検出

チップ部品の吸着ミス検出
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改善のポイント
実装工程で、チップの傾きやチップの有無など微小ワークを確実に検出します。また、80μsサンプリングのため、高速ラインでの検出も可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]

炉搬送前ステージ傾き検知

炉搬送前ステージ傾き検知
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改善のポイント
炉に搬送する前のステージを多点で測定することにより傾きを計算できます。傾きを補正してから製品を搬送することで均一の温度制御が可能になります。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

稼働中のユニットの挙動検出

稼働中のユニットの挙動検出
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改善のポイント
装置内の各種ユニット挙動を測定します。小型ヘッドのため、小さなスペースでも設置が可能で、設備導入後でも組み込むことが可能となります。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

カセット内のウエハ・ガラスの有無検知

カセット内のウエハ・ガラスの有無検知
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改善のポイント
ストッカ内のガラスの有無や飛び出しを同時に検出します。アナログ処理を行うことで、ストッカ自体の位置ズレが発生しても安定検出します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

ボンディング後のチップ高さ測定

ボンディング後のチップ高さ測定
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改善のポイント
ボンディング前の基板や実装後のチップ高さを測定し、後工程の吸着ノズルやディスペンサノズルへフィードバック制御を行います。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

基板の高さ制御

基板の高さ制御
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改善のポイント
実装工程や基板穴あけ工程で基板の高さを制御します。基板表面の色に影響されず多品種ワークでも安定検出します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

セラミック基板の反り検出

セラミック基板の反り検出
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改善のポイント
センサヘッドが小型な為、小型基板の多点測定が可能です。測定データを外部で演算することにより、位置決めや反りの検出が可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

樹脂部品の異品種判別

樹脂部品の異品種判別
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改善のポイント
品種による高低差が小さいパーツでも、高精度センサヘッドで安定判別します。品種が変わってもバンク機能により設定を切り替えることができます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

フープ材のテンションコントロール

フープ材のテンションコントロール
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改善のポイント
フープ材のテンションコントロールを行います。FWシリーズなら対象物の凹凸の影響を受けずに検出可能です。また、1台で上下限の設定が可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  FWシリーズ
[カタログ]  FWシリーズ
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集

ばねの検出

ばねの検出
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改善のポイント
ばねの有無を検出します。FWシリーズはスポット内の最も高い位置安定して検出します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  FWシリーズ
[カタログ]  FWシリーズ
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集

熱変位測定

熱変位測定
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改善のポイント
温度変化による変位量を測定します。世界初”スケールショットシステム”採用により、温度特性に強く安定した測定が可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  AT-V
[カタログ]  AT-V
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック

ガラスの反り確認

ガラスの反り確認
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改善のポイント
複数台のGT2を使用し、ガラスの反りを確認できます。低測定力タイプもラインナップしておりますので、対象物を傷つけることなく測定可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  AT-V
[カタログ]  AT-V
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック

X-Yステージ位置決め

X-Yステージ位置決め
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改善のポイント
X-Yステージの移動量を測定します。世界初”スケールショットシステム”を採用しているため、温度変化の影響を受けません。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  AT-V
[カタログ]  AT-V
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック

ハードディスクの面振れ測定

ハードディスクの面振れ測定
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改善のポイント
世界最速392kHzサンプリングにより、高速回転しているハードディスクの動特性を非接触で測定できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 振動測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 振動測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計使い方サポートシート
[技術資料]  非接触レーザ変位計使い方サポートシート

チップ部品の重なり検出

チップ部品の重なり検出
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改善のポイント
チップ部品の立ちや重なりを、カバー前に検出するために、高精度CCDレーザ変位計LKシリーズが使用されています。超小型サイズのため、装置内への取り付けが容易に行なえます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 位置決め・ストローク位置測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 位置決め・ストローク位置測定編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編

基板の反り測定

基板の反り測定
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改善のポイント
基板の反り量を非接触で測定します。半透明の基板表面も正確に測定できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  非接触測定テクニックガイド厚み・そり測定など
[技術資料]  非接触測定テクニックガイド厚み・そり測定など
[技術資料]  実績アプリ例集7大業界・126種類
[技術資料]  実績アプリ例集7大業界・126種類

スパッタリングターゲット磨耗形状測定

スパッタリングターゲット磨耗形状測定
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改善のポイント
表面形状を高精度に計測することで、磨耗量を正確に算出することができます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  非接触測定テクニックガイド厚み・そり測定など
[技術資料]  非接触測定テクニックガイド厚み・そり測定など
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 長さ・幅・外径測定
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 長さ・幅・外径測定

極板の厚み測定

極板の厚み測定
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改善のポイント
極板の厚みをインラインで連続的に監視します。不良の発生をいち早くキャッチするため、ムダな生産を最小限に抑えることが可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 厚み測定
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 厚み測定
[技術資料]  実績アプリ例集7大業界・126種類
[技術資料]  実績アプリ例集7大業界・126種類

IC樹脂モールドの形状測定

IC樹脂モールドの形状測定
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改善のポイント
樹脂モールドの形状を非接触で測定します。最新の計測アルゴリズムにより半透明樹脂の形状も正確に測定できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 段差測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 段差測定編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編

ロボットアームの原点位置確認

ターンテーブルの振れ測定

ターンテーブルの振れ測定
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改善のポイント
ワイドスポットレーザにより、表面の荒れたワークでも高精度に測定できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 振動測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 振動測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計使い方サポートシート
[技術資料]  非接触レーザ変位計使い方サポートシート

ウエハの位置確認

ウエハの位置確認
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改善のポイント
テーブル上にセットされたウエハが固定ピンに乗り上げていないかを確認します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 段差測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 段差測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計使い方サポートシート
[技術資料]  非接触レーザ変位計使い方サポートシート

BGAボール高さ測定

金型の形状測定

金型の形状測定
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改善のポイント
金型の形状を非接触で測定します。光量調整機能(ABLE機能)によって形状が正確に測定できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[カタログ]  LK-G5000シリーズ
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 形状測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 形状測定編
[技術資料]  レーザ変位計ビギナーズ導入ガイドVol.1~5
[技術資料]  レーザ変位計ビギナーズ導入ガイドVol.1~5

基板の反り・チップの傾き検出

基板の反り・チップの傾き検出
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改善のポイント
基板の反りやチップ部品の傾きをライン上で検出するためにLJ-Gが使用されています。2次元変位センサであるため、センサを動かさずに表面形状から多点測定が可能になります。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LJ-Gシリーズ
[カタログ]  LJ-Gシリーズ
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 形状・そり・歪み測定
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 形状・そり・歪み測定
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編

試料の形状測定

試料の形状測定
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改善のポイント
φ2μmの超小スポット径により、表面形状を正確にトレースできます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LT-9000
[カタログ]  LT-9000
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 偏心・振動測定
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 偏心・振動測定
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 形状測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 形状測定編

クリームはんだの印刷形状測定

クリームはんだの印刷形状測定
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改善のポイント
基板上のクリーム半田の高さ・形状を測定するために、ダブルスキャンレーザ測定器LT-9000シリーズが使用されています。最高分解能0.01μmにて測定することが可能です。世界初の高精度ダブルスキャン方式により、ウエット面、鏡面・Rのついた形状でも測定でき、レンズをセンサ内部で動かすことで、クリーム半田のペーストも正確に測定することができます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LT-9000
[カタログ]  LT-9000
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編
[技術資料]  変位センサプロテクニックvol.1
[技術資料]  変位センサプロテクニックvol.1

樹脂モールド上のレーザマーカ刻印深さ測定

樹脂モールド上のレーザマーカ刻印深さ測定
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改善のポイント
ICの樹脂モールドに印字されるロット番号などのレーザマーカ印字深さを測定するためにダブルスキャンレーザ測定器LT-9000シリーズが使用されています。モニタ上で85倍の拡大画像を見ながら、分解能0.01μmで測定する事ができます。 移動ステージと連動させることで、印字深さ、幅の測定が可能になります。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LT-9000
[カタログ]  LT-9000
[カタログ]  MD-V9900Aシリーズ
[カタログ]  MD-V9900Aシリーズ
[カタログ]  ML-Z9500シリーズ
[カタログ]  ML-Z9500シリーズ

電線の外径測定(X・Y軸同時測定)

電線の外径測定(X・Y軸同時測定)
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改善のポイント
電線の外径をX・Yの2軸から同時測定し外径の平均値を求めます。1軸方向だけの測定にくらべて製品の信頼性を向上します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LS-7000シリーズ
[カタログ]  LS-7000シリーズ
[技術資料]  実績アプリ例集7大業界・126種類
[技術資料]  実績アプリ例集7大業界・126種類
[技術資料]  非接触測定ガイド寸法測定器版
[技術資料]  非接触測定ガイド寸法測定器版

チップ実装面の形状測定

チップ実装面の形状測定
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改善のポイント
リアルタイムで拡大、縮小、回転など様々な表示を自在に使用することで形状観察が容易に行なえます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  KS-1100
[カタログ]  KS-1100
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 形状・そり・歪み測定
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 形状・そり・歪み測定
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編

HDDヘッドの形状測定

HDDヘッドの形状測定
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改善のポイント
φ2μmのスポット径のレーザプローブにより、微細なワークも高精度に計測できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  KS-1100
[カタログ]  KS-1100
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 形状・そり・歪み測定
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 形状・そり・歪み測定
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編

BGAの形状測定

BGAの形状測定
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改善のポイント
プロファイル計測や平面計測など多彩な計測モードに加え、形状を直感的に観察できる3D表示機能を搭載。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  KS-1100
[カタログ]  KS-1100
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 形状・そり・歪み測定
[技術資料]  センサ測定ノウハウガイド 形状・そり・歪み測定
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 電子部品業界編

不織布の形状測定

不織布の形状測定
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改善のポイント
非接触レーザで計測するため、あらゆる対象物を計測可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  KS-1100
[カタログ]  KS-1100
[技術資料]  業界別改善事例集 樹脂・ゴム・フィルム業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 樹脂・ゴム・フィルム業界編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 形状測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 形状測定編

HDDヘッドの傾き量判別

HDDヘッドの傾き量判別
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改善のポイント
読み取り不良の原因になる、読み取りチップ実装時の傾きを測定するために、高精度角度測定器LAシリーズが使用されています。ワンポイントレーザを当てるだけで、分解能5秒の高精度で傾きが測定可能です。最小スポット径φ0.3mmタイプもラインナップし、極小ワークにも対応可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LA-2000
[カタログ]  LA-2000
[技術資料]  業界別改善事例集 液晶・PDP業界編
[技術資料]  業界別改善事例集 液晶・PDP業界編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 振動測定編
[技術資料]  非接触レーザ変位計用途別測定ガイド 振動測定編

光ピックアップの傾き検査

光ピックアップの傾き検査
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改善のポイント
ワンポイントレーザを当てるだけで、レンズ組み立て不良を判別できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LA-2000
[カタログ]  LA-2000
[技術資料]  非接触レーザ変位計使い方サポートシート
[技術資料]  非接触レーザ変位計使い方サポートシート
[技術資料]  非接触測定テクニックガイド厚み・そり測定など
[技術資料]  非接触測定テクニックガイド厚み・そり測定など

テーピングマシンのがたつき測定

テーピングマシンのがたつき測定
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改善のポイント
テーピングマシンの動きがスムーズで無くなると、吸着しているチップ部品がエンボステープ内で横を向いたり飛び出したりします。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  EX-V
[カタログ]  EX-V
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック

かしめ不良検出

かしめ不良検出
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改善のポイント
下死点位置を検出することにより、かしめ不良を検出します。下死点モードに設定するだけで自動的にトリガが入り、サンプリング期間内の最下死点の位置を検出し、公差判定を行ないます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  EX-V
[カタログ]  EX-V
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック

チップマウンターの動的精度確認

チップマウンターの動的精度確認
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改善のポイント
アームの動的精度を装置稼動状態で常時監視。原点ズレによるマウント不良を防止します。超小型センサヘッドにより、装置の取り付け場所も選びません。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  EX-V
[カタログ]  EX-V
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック

混合タンクのレベル測定

混合タンクのレベル測定
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改善のポイント
タンク内の液面高さを測定。上下限レベルを設定することにより、各材量の供給弁を制御し、ポンプの破損や空充填を防ぎます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  FWシリーズ
[カタログ]  FWシリーズ
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集

半田槽の液面検出

半田槽の液面検出
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改善のポイント
自動半田ディップ槽の液面を一定に保つために、液面を耐熱型センサで検出します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ライン監視用センサ ラインナップ(JC、GA、EG、UD、IT掲載)
[カタログ]   ライン監視用センサ ラインナップ(JC、GA、EG、UD、IT掲載)
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]

(研磨前)ガラスの厚み測定

(研磨前)ガラスの厚み測定
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改善のポイント
送りベルトにて搬送する際の停止箇所を利用し、エリアフタ機能によって両側からセンサを押し当てて厚みを高精度に測定します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  AT-V
[カタログ]  AT-V
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック

LCD組み付け工程での位置決め

LEDの誤組み付け検出

LEDの誤組み付け検出
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改善のポイント
目視検査による全数検査と比べて、大幅に工数が削減できます。また、見落としによる不良品の流出を防ぐことができます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[技術資料]  外観検査の極意 基礎編
[技術資料]  外観検査の極意 基礎編
[技術資料]  改善事例用途集 電子部品業界編
[技術資料]  改善事例用途集 電子部品業界編
[カタログ]  CV-5000
[カタログ]  CV-5000

ピンピッチ測定

ピンピッチ測定
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改善のポイント
ピン部分をウィンドウで囲むだけで簡単に最大、最小、平均値が求められます。メガピクセルCCDにより、さらに計測精度が向上します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[技術資料]  改善事例用途集 電子部品業界編
[技術資料]  改善事例用途集 電子部品業界編
[技術資料]  ビジョン・テクニカルレポート Vol.3
[技術資料]  ビジョン・テクニカルレポート Vol.3
[カタログ]  CV-5000
[カタログ]  CV-5000

BGA基板のペースト抜け

BGA基板のペースト抜け
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改善のポイント
ペースト量不足によるダイ接着不良を早期発見。不良の大量生産をストップ。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[技術資料]  改善事例用途集 電子部品業界編
[技術資料]  改善事例用途集 電子部品業界編
[技術資料]  外観検査の極意 基礎編
[技術資料]  外観検査の極意 基礎編
[カタログ]  CV-5000
[カタログ]  CV-5000

携帯電話用ボタンの異品種判別

ICの各種検査

ICの各種検査
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改善のポイント
ICリードのセンターピッチ測定やリード曲がり、抜けなど、高価な専用機でしか行なえない複合検査を高速で実現できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[技術資料]  改善事例用途集 半導体・液晶業界編
[技術資料]  改善事例用途集 半導体・液晶業界編
[技術資料]  ビジョン・テクニカルレポート Vol.3
[技術資料]  ビジョン・テクニカルレポート Vol.3
[カタログ]  CV-5000
[カタログ]  CV-5000

TABテープリードピッチ測定

ハウジングの欠け・バリ検出

ハウジングの欠け・バリ検出
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改善のポイント
コネクタのハウジング部に発生した欠けやバリを検出します。周囲の状態と比較したうえで判定するスキャニング方式採用で、高精度かつ安定した検出を実現します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[技術資料]  ビジョン・テクニカルレポート Vol.1
[技術資料]  ビジョン・テクニカルレポート Vol.1
[技術資料]  外観検査の極意 基礎編
[技術資料]  外観検査の極意 基礎編
[技術資料]  外観検査の極意 応用テクニック編
[技術資料]  外観検査の極意 応用テクニック編

エンボステープ内のチップカウント

エンボステープ内のチップカウント
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改善のポイント
高速で移動するエンボステープのチップ有無を確実に検出します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  FS-V30
[カタログ]  FS-V30
[カタログ]  ファイバユニットを選ぶカタログ
[カタログ]  ファイバユニットを選ぶカタログ

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