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「センサ/判別変位センサ」

「半導体・液晶業界」

「生産技術・技術」

のソリューション事例一覧

21 件中 1-21 件表示

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液晶ガラスの有無検知

液晶ガラスの有無検知
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改善のポイント
液晶の製造プロセスにて搬送時のガラス基板の有無を検知します。透過量を高精度に判別できるので、安定した検出が可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]

チップ部品の吸着ミス検出

チップ部品の吸着ミス検出
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改善のポイント
実装工程で、チップの傾きやチップの有無など微小ワークを確実に検出します。また、80μsサンプリングのため、高速ラインでの検出も可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]

稼働中のユニットの挙動検出

稼働中のユニットの挙動検出
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改善のポイント
装置内の各種ユニット挙動を測定します。小型ヘッドのため、小さなスペースでも設置が可能で、設備導入後でも組み込むことが可能となります。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

カセット内のウエハ・ガラスの有無検知

カセット内のウエハ・ガラスの有無検知
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改善のポイント
ストッカ内のガラスの有無や飛び出しを同時に検出します。アナログ処理を行うことで、ストッカ自体の位置ズレが発生しても安定検出します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[カタログ]   ILシリーズ CMOS レーザアプリセンサ
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]  測定原理[レーザー判別変位とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)
[技術資料]   現場改善のヒント集(予知保全・予防保全・見える化)

ウエハのノッチ検出

ウエハのノッチ検出
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改善のポイント
ウエハのノッチ位置を高精度に検出します。繰り返し精度5μmとクラス最高の判別能力を発揮します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]

液晶基板の位置決め

液晶基板の位置決め
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改善のポイント
液晶ガラスの搬送位置決めを高精度に行います。新アルゴリズムを搭載し、透明体でも安定した検出が可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]

透明シートのエッジコントロール

透明シートのエッジコントロール
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改善のポイント
フィルムの巻き取り工程でエッジ制御を行い、均一な巻き取りを実現します。遮光レベルを自由に変更できるので薄膜フィルムも高精度に判別できます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[カタログ]   IG・IBシリーズ ラインナップカタログ
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]  測定原理[光学式透過型とは?]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]

ウエハ検出

ウエハ検出
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改善のポイント
搬送中のウエハを検出します。光電センサでは、ウエハの表面の色、模様、光沢の影響により検出が不安定でした。FWシリーズなら表面状態の影響を受けずに安定して検出可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  FWシリーズ
[カタログ]  FWシリーズ
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集

テーピングマシンのがたつき測定

テーピングマシンのがたつき測定
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改善のポイント
テーピングマシンの動きがスムーズで無くなると、吸着しているチップ部品がエンボステープ内で横を向いたり飛び出したりします。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  EX-V
[カタログ]  EX-V
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック

チップマウンターの動的精度確認

チップマウンターの動的精度確認
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改善のポイント
アームの動的精度を装置稼動状態で常時監視。原点ズレによるマウント不良を防止します。超小型センサヘッドにより、装置の取り付け場所も選びません。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  EX-V
[カタログ]  EX-V
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック

混合タンクのレベル測定

混合タンクのレベル測定
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改善のポイント
タンク内の液面高さを測定。上下限レベルを設定することにより、各材量の供給弁を制御し、ポンプの破損や空充填を防ぎます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  FWシリーズ
[カタログ]  FWシリーズ
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  測定原理[超音波式センサとは?]
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集
[技術資料]  超音波センサ業界別アプリケーション集

半田槽の液面検出

半田槽の液面検出
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改善のポイント
自動半田ディップ槽の液面を一定に保つために、液面を耐熱型センサで検出します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]   ライン監視用センサ ラインナップ(JC、GA、EG、UD、IT掲載)
[カタログ]   ライン監視用センサ ラインナップ(JC、GA、EG、UD、IT掲載)
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]  渦電流式センサ 測定ガイドブック
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]
[技術資料]   現場改善のヒント集 [有無検出・位置決め]

(研磨前)ガラスの厚み測定

(研磨前)ガラスの厚み測定
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改善のポイント
送りベルトにて搬送する際の停止箇所を利用し、エリアフタ機能によって両側からセンサを押し当てて厚みを高精度に測定します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  GT2シリーズ
[カタログ]  AT-V
[カタログ]  AT-V
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック
[技術資料]   接触式変位センサガイドブック

エンボステープ内のチップカウント

エンボステープ内のチップカウント
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改善のポイント
高速で移動するエンボステープのチップ有無を確実に検出します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  FS-V30
[カタログ]  FS-V30
[カタログ]  ファイバユニットを選ぶカタログ
[カタログ]  ファイバユニットを選ぶカタログ

ガラス基板アライメント

ガラス基板アライメント
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改善のポイント
FS-V31のスーパーターボモードを使用すれば、ガラス基板に傾きがある場合でも±8°まで安定した検出が可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  FU-40S/FU-38L/FU-38LK
[カタログ]  FU-40S/FU-38L/FU-38LK
[カタログ]  FS-V30
[カタログ]  FS-V30

ウエハの飛び出し検出

ウエハの飛び出し検出
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改善のポイント
一眼構造により透過型と同等の特性を実現しているため、ウエハの飛び出し位置のバラツキにも確実に対応します。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ
[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ

ガラス基板の検出

ガラス基板の検出
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改善のポイント
同軸構造により、ガラス基板のような光が正反射で返ってくるワークでもセンサを傾けることなく、安定した検出を行なうことができます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ
[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ

小物部品の落下検出

小物部品の落下検出
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改善のポイント
LVは感度が自動的に補正されるエッジ検出モードを搭載していますので、徐々に汚れてくるような環境においても安定した検出が行なえます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ
[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ

ウエハリングの検出

ウエハリングの検出
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改善のポイント
長距離スポット可変によりウエハ口径が変わってもセンサの位置をかえる必要がありません。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ
[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ
[カタログ]  GVシリーズ
[カタログ]  GVシリーズ

基板の吸着ミス検出

基板の吸着ミス検出
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改善のポイント
検出距離1mの長距離かつレーザの明瞭スポットにより設定が簡単に行えます。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ
[カタログ]  LV-H/LV-Sシリーズ
[カタログ]  GVシリーズ
[カタログ]  GVシリーズ

リード・コネクタピンなどのカウンタ制御

リード・コネクタピンなどのカウンタ制御
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改善のポイント
KV-5000/3000シリーズはMAX100KHzの高速カウンタを内蔵していますので、CPU単体で高速な信号を取りこぼしなく、確実にカウントすることができます。 またCPU本体のハイパーアクセスウィンドウで高速カウンタの現在値をパソコンなしでモニタすることが可能です。
この商品で実現できます

関連資料・カタログ

[カタログ]  KVシリーズ総合カタログ
[カタログ]  KVシリーズ総合カタログ
[カタログ]  FS-V30
[カタログ]  FS-V30
[カタログ]  ファイバユニットを選ぶカタログ
[カタログ]  ファイバユニットを選ぶカタログ

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