- ステージが回転しながらスキャニング
360度死角のない3Dデータを取得
- 新原理「AWSⅡ」で
微細な箇所でも高精度・ノイズレス
- 大型測定物も目印をつけずに連結
ひとつなぎのデータとして測定できます
- 幾何公差・仮想線・曲面など、ノギスや
三次元測定機が苦手な箇所も楽々測定
- 良品・不良品など現物同士を比較
形状の違いを測定・可視化できます
- 測定結果はSTLデータとして出力可能
リバースエンジニアリングや図面化にも
詳しくはカタログをダウンロードして
ご覧ください。
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