• 今までの粗さ計は…

    ×接触式の限界 サンプルを傷つける可能性がある 測りたい場所をうまく狙えない 触針の先端径が分解能の限界

  • 今までの干渉計は…

    ×原理の限界 急峻な形状が測れない 対象物を水平に置く必要がある カラーで観察できない

  • SEMの課題…

    ×原理の限界 真空引きが必要 蒸着など前処理が必要 カラーで観察できない

使いこなしが難しい!

形状解析レーザ顕微鏡VK-Xシリーズなら誰でも簡単に、高精度に全自動測定

新原理RPDⅡ/AIスキャン 置いてクリックするだけ 水平だし不要。スキル不要

point01 レーザで非接触・高精度に「粗さ」測定

対象物を傷つけない 測りたい場所を瞬時に計測 急峻な形状も正確に測定 50ミリから1ナノまでを高精度に測る

point02 高精細フルカラー観察

大気中でSEMに匹敵する高解像度 28800倍までカラー観察

詳しくは、ぜひカタログをダウンロードして
ご確認ください。

お気軽にお電話ください 0120-122-134

こちらからダウンロードしてください

メールアドレスをご入力ください

Web会員の方はご登録メールアドレスをご入力ください。
登録がお済みでない方はメールアドレスと必要事項のご登録をお願いいたします。

株式会社キーエンスは、当社が保有するお客様の個人情報を保護するため個人情報保護法を含め関係する法令・ガイドラインなどを遵守します。

個人情報の取り扱いについて

Web会員専用のサービス

  • 資料ダウンロード
  • 価格・見積依頼
  • テスト機の無料貸出

新規登録

ステップ 1/

入力されたメールアドレスのWeb会員登録はありませんでした。
お手数ですが、下記の登録フォームにご記入ください。
登録後はこのフォームにご記入いただく必要はありません。