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高速・高精度CCDレーザ変位計
LK-G3000 シリーズ
高精度センサヘッド 小スポット LK-G32

仕様

型式

LK-G32

基準距離

拡散反射:30 mm、正反射:23.5 mm

測定範囲

拡散反射:±5 mm、正反射:±4.5 mm*1

光源

種類

赤色半導体レーザ

波長

655 nm (可視光)、クラス2 (JIS C6802)

出力

最大 0.95 mW

スポット径 (基準距離にて)

約 ø30 µm

直線性

±0.05 % of F.S. (F.S.=±5 mm)*2

繰り返し精度

0.05 µm*3

サンプリング周期

20・50・100・200・500・1,000 µs (6 段階可変)

LED表示

測定中心付近:緑点灯、測定範囲内:橙点灯、測定範囲外:橙点滅

温度特性

0.01 % of F.S./℃ (F.S.=±5 mm)

耐環境性

保護構造

IP67 (IEC60529)

使用周囲照度

白熱ランプ/蛍光灯:10,000 lux 以下

使用周囲温度

0 ~ +50 ℃

使用周囲湿度

35 ~ 85 % RH (結露しないこと)

耐振動

10 ~ 55 Hz、複振幅 1.5 mm、X,Y,Z 各方向 2 時間

質量

約 280 g (コード含む)

*1 サンプリング周期 20 µs 時は拡散反射時 +1.8 mm (FAR 側) ~ -5 mm (NEAR 側)、正反射時 +1.6 mm (FAR 側) ~ -4.5 mm (NEAR 側) になります。
*2 弊社標準対象物 (セラミック) を標準モードにて測定した場合の値。
*3 弊社標準対象物 (SUS) を基準距離にて平均回数 4,096 回で測定した場合の値。

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