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高速・高精度CCDレーザ変位計
LK-G3000 シリーズ
センサヘッド スポットタイプ 最小表示単位0.3㎜ LK-G80H

こちらの商品は、生産終了となりました。
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推奨代替機種

仕様

型式

LK-G80H*1

基準距離

80 mm (拡散反射),75.2 mm (正反射)

測定範囲

±15 mm (拡散反射)、±14 mm (正反射)*2

光源

種類

赤色半導体レーザ

波長

650nm (可視光) クラス3R (JIS C6802)

出力

最大 4.8 mW

スポット径 (基準距離にて)

約 ø70 µm

直線性

±0.05% of F.S. (F.S.=±15 mm)*3

繰り返し精度

0.3 µm*4

サンプリング周期

20/50/100/200/500/1,000 µs (6 段階可変)

LED表示

測定中心付近:緑点灯
測定範囲内:橙点灯
測定範囲外:橙点滅

温度特性

0.01% of F.S./℃ (F.S.=±15 mm)

耐環境性

保護構造

IP67 (IEC60529)

使用周囲照度

白熱ランプ/蛍光灯:10,000 lux 以下

使用周囲温度

0 ~ +50 ℃

使用周囲湿度

35 ~ 85 % RH (結露しないこと)

耐振動

10 ~ 55 Hz、複振幅 1.5 mm、X,Y,Z 各方向 2 時間

材質

アルミダイカスト

質量

約 380 g (コード含む)

*1 全ての LK-G シリーズコントローラとの組み合わせにおいて最小表示単位 0.3 µm タイプです。
測定値の表示は、0.3 µm 毎に変化します。(0.00 µm → 0.30 µm → 0.60 µm・・・と 0.3 µm 未満の変化は表示しません。)
*2 弊社標準対象物 (セラミック) を測定した場合。サンプリング周期 20 µs 時は拡散反射時 -9 mm (NEAR 側) ~ -15 mm (NEAR 側)、正反射時 -8.7 mm (NEAR 側) ~ -14 mm (NEAR 側) になります。
*3 弊社標準対象物 (セラミック)を標準モードにて測定した場合の値。
*4 弊社標準対象物 (SUS) を基準距離にて平均回数 4,096 回で測定した場合の値。