【新商品情報】 50ミリから1ナノまで、微細形状を広範囲に測定!形状解析レーザ顕微鏡「VK-X1000」登場。詳細は こちら!

白色干渉3D変位計
WI-5000 シリーズ

8万点の高さを、わずか0.13秒で高精度測定

1点でも線でもない、“面”での測定

MAX10×10mmの測定エリアに対し、8万点の高さを瞬時に取得。白色干渉原理のため、材質・色の影響ゼロ、死角の影響がゼロで、ミクロンオーダーの高精度測定を実現しました。

測定までがわずか0.13秒

2インラインで高速全数検査を実現

多点を測定する場合、対象物を高精度かつ高速にスキャンする必要があります。そのためステージの移動に時間がかかってしまい、全数検査が困難でした。WI-5000シリーズは面で一括測定のため、測定時間が大幅に短縮され、全数検査を実現できます。

従来との比較イメージ

3オフラインの検査工数を大幅削減

オフライン検査で使用するために、センサヘッドを固定する専用スタンドをご用意しています。
検査工数の削減を実現する各種役立ち機能を搭載。
簡易測定からデータ保存まで、あらゆるシーンの作業性を改善します。

従来との比較イメージ

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