【新商品情報】 高精度に“瞬間3D測定”白色干渉3D変位計「WI-5000シリーズ」発売。詳細は こちら!

小型・絶縁8ch高速マルチレコーダ
GR-7000 シリーズ
ひずみ計測ユニット NR-ST04

仕様

型式

NR-ST04

種類

ひずみ計測ユニット

入力方式

平衡差動入力 CH間非絶縁、他ユニット (パソコン)̶入力間絶縁

入力インピーダンス

1MΩ以上

チャンネル数

4ch最大増設時24ch (6ユニット接続時)

測定周期

最速サンプリング周期20µs (50kHz) ~ 60s

A/D変換方式

逐次比較方式 全CH同時サンプリング

A/D分解能

16bit

入力周波数帯域

DC ~ 5kHz (-3dB)

耐電圧

入力-システムバス/アース間

1500VAC (50/60Hz) 1分間

入力種類

ひずみ入力

±1000µST、±2000µST、±5000µST、±10000µST、±20000µST

電圧入力

±2mV、±5mV、±10mV、±20mV、±50mV

最大入力定格

±1.0V (CAT㈵)

測定可能範囲

±50mV : -55.00mV ~ +55.00mV
±20mV : -22.000mV ~ +22.000mV
±10mV : -11.000mV ~ +11.000mV
±5mV : -5.500mV ~ +5.500mV
±2mV : -2.2000mV ~ +2.2000mV
±20000µST : -22000µST ~ +22000µST
±10000µST : -11000.0µST ~ +11000.0µST
±5000µST : -5500.00µST ~ +5500.00µST
±2000µST : -2200.0µST ~ +2200.0µST
±1000µST : -1100.00µST ~ +1100.00µST

測定確度

ゲイン確度

±0.2% of F.S.*1

表示分解能

±50mV : 10µV
±20mV : 1µV
±10mV : 1µV
±5mV : 1µV
±2mV : 0.1µV
±20000µST : 1µST
±10000µST : 0.5µST
±5000µST : 0.25µST
±2000µST : 0.1µST
±1000µST : 0.05µST

バッファメモリ

4Mデータ

ウォームアップ時間

30分以上

適応ゲージ抵抗

1ゲージ/2ゲージ法 120Ω (350Ωは外付けブリッジボックス必要) 4ゲージ法 120Ω ~ 1kΩ

印加電圧

DC2V (±0.4%)

平衡調整

方式

電子式平衡調整 (オートバランス)

平衡調整確度

±0.1% of F.S.*1

平衡調整範囲

±29000µST (ひずみ入力時) ±29mV (電圧入力時)

ゲージ率

2.0固定

コモンモードノイズ除去比

80dB以上 (DC ~ 60Hz)

ローパスフィルタ

遮断周波数

オート、5k、3.5k (3k)、2k (1.5k)、1k (750)、500 (370)、250 (200)、120 (100)、60 (50)、30 (25)、15 (12)、8 (6)、4 (3)Hz ( )は、20kHzサンプリング時

減衰特性

5次ベッセルフィルタ -30dB/oct

ゼロ点安定度

温度特性

±2µST/℃、 ±2µV/℃*2

経時変化

±1.5µST/8h、 ±3µV/8h*2

ゲイン安定度

温度特性

±0.05% of F.S./℃*2

経時変化

±0.3% of F.S./8h*2

定格

消費電力

3.0W以下

耐環境性

使用周囲温度

0 ~ +40℃

使用周囲湿度

35 ~ 85%RH (結露しないこと)

質量

約230g (OP-51584 : NR-ST04 10極端子台2個含む)

*1 サンプリング周期50Hz、ローパスフィルタ8Hz時。
*2 内蔵ブリッジ抵抗の温度特性、経時変化は含みません。(内蔵ブリッジ抵抗安定度 : ±5ppm/℃以下 ±50ppm/年)

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