全自動多点測定 トリプルスキャン方式 新商品 白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡 VK-X4000

複雑な設定は不要で、多点測定を自動化する機能を搭載。
作業時間を減らしながら、測定サンプリング点数を増やすことで、研究開発の客観的評価と信頼性を向上させます。

3つの異なるスキャン原理が1台で使用できます。
サンプルワークの素材や形状や測定範囲にあわせて最適なスキャン方式を選択することにより、高精度に測定できます。

白色干渉5倍レンズが新登場。
従来比4倍の視野で広範囲測定が可能となりました。
小さな形状変化も正確に捉え、スキャンが難しい透明体や鏡面体にも対応できます。