ひずみ計測ユニット NR-ST04


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NR-ST04 - ひずみ計測ユニット

仕様

型式

NR-ST04 *1

種類

ひずみ計測ユニット

入力方式

平衡差動入力 CH間非絶縁、
他ユニット(パソコン)—入力CH間絶縁

チャンネル数

4 ch *2

測定周期

最速サンプリング周期20μs(50kHz)〜60s

A/D 変換方式

逐次比較方式
全CH同時サンプリング

A/D 分解能

16bit

入力周波数帯域

DC〜5kHz(−3dB)

最大入力定格

±1.0V

耐電圧

入力 - システムバス/アース間

1500VAC(50/60Hz) 1分間

入力インピーダンス

1MΩ以上

入力種類

電圧入力

±2mV、±5mV、±10mV、±20mV、±50mV

ひずみ入力

±1000μST、±2000μST、±5000μST、±10000μST、±20000μST

測定可能範囲

±50mV:−55.00mV〜+55.00mV
±20mV:−22.000mV〜+22.000mV
±10mV:−11.000mV〜+11.000mV
±5mV:−5.500mV〜+5.500mV
±2mV:−2.2000mV〜+2.2000mV
±20000µST:−22000µST〜+22000µST
±10000µST:−11000.0µST〜+11000.0µST
±5000µST:−5500.00µST〜+5500.00µST
±2000µST:−2200.0µST〜+2200.0µST
±1000µST:−1100.00µST〜+1100.00µST

測定確度

ゲイン確度

±0.2% of F.S.( ローパスフィルタ8 Hz 平均20回 サンプリング50 Hz時)

表示分解能

±50mV:10µV
±20mV:1µV
±10mV:1µV
±5mV:1µV
±2mV:0.1µV
±20000µST:1µST
±10000µST:0.5µST
±5000µST:0.25µST
±2000µST:0.1µST
±1000µST:0.05µST

バッファメモリ

4Mデータ*3

ウォームアップ時間

30分以上

適応ゲージ抵抗

1ゲージ/2ゲージ法 120Ω(350Ωは外付けブリッジボックス必要)
4ゲージ法 120Ω〜1kΩ

印加電圧

DC2V(±0.4%)

平衡調整

方式

電子式平衡調整(オートバランス)

平衡調整確度

±0.1% of F.S.( ローパスフィルタ8 Hz 平均20回 サンプリング50 Hz時)

平衡調整範囲

±29000μST(ひずみ入力時) ±29mV(電圧入力時)

ゲージ率

2.0固定

ローパスフィルタ

遮断周波数

オート、5k、3.5k(3k)、2k(1.5k)、1k(750)、500(370)、250(200)、120(100)、60(50)、30(25)、15(12)、8(6)、4(3)Hz
( )は、20kHzサンプリング時

減衰特性

5次ベッセルフィルタ −30dB/oct

ゼロ点安定度

温度特性

±2μST/℃、±2μV/℃ *4

経時変化

±1.5μST/8h、±3μV/8h *4

ゲイン安定度

温度特性

±0.05% of F.S./℃ *4

経時変化

±0.3% of F.S./8h *4

コモンモードノイズ除去比

80dB以上(DC〜60Hz)

定格

消費電力

3.0W以下

耐環境性

使用周囲温度

0℃〜+40℃

使用周囲湿度

10%〜85%RH(結露なきこと)

質量

約230g
(OP-51584:NR-ST04 10極端子台2個含む)

*1 上記仕様は23℃±3℃、ウォームアップ時間経過後オートバランスをした時の値
STはひずみ、μは10−6です。
*2 最大増設時216 ch(54ユニット接続、NR-X100 使用時) 24 ch(6ユニット接続、NR-500 使用時)
*3 NR-X100で使用する際は、NR-X100のバッファメモリの制限を受けます。
*4 内蔵ブリッジ抵抗の温度特性、経時変化は含みません。(内蔵ブリッジ抵抗安定度:±5ppm/℃以下 ±50ppm/年)