バルーンカテーテル膨張時の厚み測定

バルーン強度の確保には、膨張した状態での厚み分布が重要です。SI-Tシリーズは、膨張状態で各部の厚みを測定することが可能です。非接触なので対象物が変形する懸念がなく、高精度な測定ができます。

分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器

SI-T シリーズ

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