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蓋の表面高さ分布を測定することで、シールの真空度を検査します。帯状レーザ光の下にワークを通過させるだけで瞬時に面内の高さを測定、インライン全数検査を実現します。
超高精細インラインプロファイル測定器
LJ-X8000 シリーズ
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