ウェハのバンプ高さ測定
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業界:
- 半導体 / 液晶
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商品カテゴリ:
- レーザ変位計 / 3Dセンサ / 寸法測定器

ウエハ上の多数のバンプ検査に測定顕微鏡を用いる方法では、時間を要するだけでなく、作業者の手間やバラつきも課題となりますが、測定範囲内を瞬時に一括検査可能なWIシリーズなら、検査精度の向上と大幅な時間短縮を実現できます。
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ウエハ上の多数のバンプ検査に測定顕微鏡を用いる方法では、時間を要するだけでなく、作業者の手間やバラつきも課題となりますが、測定範囲内を瞬時に一括検査可能なWIシリーズなら、検査精度の向上と大幅な時間短縮を実現できます。