ウェハのカセット飛び出し検査
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業界:
- 半導体 / 液晶
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商品カテゴリ:
- レーザ変位計 / 3Dセンサ / 寸法測定器
キャリアからの僅かなウェハの飛び出しを検知します。一般的な三角測距センサでは乱反射光の影響を受ける検出も、同軸測定原理であるCLシリーズなら、安定した検査が可能です。
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商品カテゴリ:
キャリアからの僅かなウェハの飛び出しを検知します。一般的な三角測距センサでは乱反射光の影響を受ける検出も、同軸測定原理であるCLシリーズなら、安定した検査が可能です。