電子部品の寿命試験時の温度計測

部品の寿命評価をするため、電子デバイスに高温または低温の熱ストレスを繰り返し加えて温度分布データを収集します。高温にさらして通電を行なうなど過酷な環境で試験を繰り返したり、熱による変形や割れなどを検査したり、樹脂＋金属といった異種素材を組み合わせた成型品の耐久性を調べたり、さまざまな温度による影響を検証します。また、マルチ入力データロガー NR-Xシリーズ であれば温度測定のほか、ひずみ計測ユニットや高速・高電圧計測ユニットを接続することで、異なる種類の計測を同時に実施できるので工数短縮に効果的です。