その他の顕微鏡
AFM
AFMはAtomic Force Microscopeの頭文字をとったもので、日本語では原子間力顕微鏡とよばれます。試料と探針の原子間にはたらく力を検出する、走査型プローブ顕微鏡の一種です。
測定力は探針の径に依存しますが、一般的にサブナノレベル（もしくはそれ以上）の非常に高い分解能を持ちます。前処理や真空引きなどが必要ないため、幅広い対象物を測定することができます。
AFMはAtomic Force Microscopeの頭文字をとったもので、日本語では原子間力顕微鏡とよばれます。試料と探針の原子間にはたらく力を検出する、走査型プローブ顕微鏡の一種です。
測定力は探針の径に依存しますが、一般的にサブナノレベル（もしくはそれ以上）の非常に高い分解能を持ちます。前処理や真空引きなどが必要ないため、幅広い対象物を測定することができます。
