測定器の種類
1次元レーザ変位計

三角測距方式

下図のように、対象物に半導体レーザからレーザ光を照射。対象物から反射した光は、受光レンズで集光され受光素子上に結像します。対象物までの距離が変動すると、集光される反射光の角度が変わり、それに伴って受光素子上に結像する位置が変化します。
この受光素子上の結像位置の変化が対象物の移動量と比例することから、結像位置の変化量を読み取り、対象物の移動量として計測しています。

基準距離の時
基準距離の時
距離が近づいた時
距離が近づいた時
距離が遠ざかった時
距離が遠ざかった時

代表商品超高速・高精度レーザ変位計 LK-G5000シリーズ

超高速・高精度レーザ変位計 LK-G5000シリーズ

共焦点方式

共焦点と音叉を利用した高精度測定方式

共焦点方式

レーザ光は音叉により高速に上下する対物レンズを通り、対象物上で焦点を結びます。その時の反射光はピンホールの位置で一点に集光され受光素子に入光します。入光した瞬間の対物レンズの位置をセンサで測定することで、対象物までの距離を材質・色・傾きの影響を受けず正確に測定します。

対象物上で
ピントが合わない時
対象物上でピントが合わない時
受光した光がピンホールをほとんど通過していません。

対象物上で
ピントが合った時
対象物上でピントが合った時
受光した光がピンホールを通過しています。

代表商品ダブルスキャン高精度レーザ測定器 LT-9000シリーズ

ダブルスキャン高精度レーザ測定器 LT-9000シリーズ

分光干渉方式

SLD
SLD から出た広波長帯域の光は、ヘッド内部の参照面で一部反射し、透過した光は対象物で正反射してヘッド内に返ります。

光干渉
2つの反射光は互いに干渉し、各波長の干渉光強度は参照面-対象物間の距離によって定まり、波長の整数倍のとき極大となります。

分光解析
干渉光を分光器で波長ごとに分光することにより、波長の光強度分布が得られます。それを波形解析し、対象物までの距離を算出します。

分光干渉方式

代表商品マイクロヘッド型 分光干渉レーザ変位計 SI-Fシリーズ

マイクロヘッド型 分光干渉レーザ変位計 SI-Fシリーズ

  • 測定器の種類
    2次元レーザ変位計

HOMEにもどる

0120-840-860 お電話でもお気軽にお問い合わせください。

お問い合わせはお電話でも 0120-840-860

「測り方/選び方」がわかる、超簡単ガイド!

測り隊.com

測定の基礎
用途から選ぶ
測定器の種類
導入事例

ページトップへ戻る