超高速インラインプロファイル測定器 LJ-Vシリーズ+画像処理システム

超高速インラインプロファイル測定器 LJ-Vシリーズ+画像処理システム

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ブルーレーザが実現する
超安定測定

超高速サンプリングが実現する
全数・全形状測定

システム概要 ラインレーザが当たった箇所の断面形状を
複数回取得し、重ねていくことで3次元形状を構築
測定原理 2次元三角測距方式
検出対象物 あらゆる物体
測定スポット ライン状
表面状態による影響
測定レンジ X14mm~240mm
Z~445mm
繰り返し精度 0.2μm~
サンプリング周期 64kHz
耐環境
アプリケーション 高さ・段差/形状/外観検査