超高解像度・高感度CMOSが実現する
超高精細・安定測定
全方位位置補正が実現する
インラインで超安定の全数検査
| 測定原理 | 2次元三角測距方式 |
|---|---|
| 検出対象物 | あらゆる物体 |
| 測定スポット | ライン状 |
| 表面状態による影響 | ○ |
| 測定レンジ | X：7～720mm Z：～1380mm |
|---|---|
| 繰り返し精度 | 0.3μm～ |
| サンプリング周期 | 64kHz |
| 耐環境 | ○ |
| アプリケーション | 高さ・段差・幅・体積・形状・外観凹凸検査など |
|---|
超高解像度・高感度CMOSが実現する
超高精細・安定測定
全方位位置補正が実現する
インラインで超安定の全数検査
| 測定原理 | 2次元三角測距方式 |
|---|---|
| 検出対象物 | あらゆる物体 |
| 測定スポット | ライン状 |
| 表面状態による影響 | ○ |
| 測定レンジ | X：7～720mm Z：～1380mm |
|---|---|
| 繰り返し精度 | 0.3μm～ |
| サンプリング周期 | 64kHz |
| 耐環境 | ○ |
| アプリケーション | 高さ・段差・幅・体積・形状・外観凹凸検査など |
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