投影画像内のあらゆる測定・検査が可能
寸法測定、異物検査、形状検査などに最適
Wテレセンシルエット方式がもたらす抜群の安定性
| 測定原理 | Wテレセンシルエット方式 |
|---|---|
| 検出対象物 | あらゆる物体 |
| 測定スポット | 円筒状 |
| 表面状態による影響 | ◎ |
| 測定レンジ | 0.02mm～65mm |
|---|---|
| 繰り返し精度 | ±0.03μｍ～ |
| サンプリング周期 | 約333Hz |
| 耐環境 | ○ |
| アプリケーション | 外径／幅／段差／R／位置決め／ギャップ |
|---|
Wテレセンシルエット方式がもたらす抜群の安定性
| 測定原理 | Wテレセンシルエット方式 |
|---|---|
| 検出対象物 | あらゆる物体 |
| 測定スポット | 円筒状 |
| 表面状態による影響 | ◎ |
| 測定レンジ | 0.02mm～65mm |
|---|---|
| 繰り返し精度 | ±0.03μｍ～ |
| サンプリング周期 | 約333Hz |
| 耐環境 | ○ |
| アプリケーション | 外径／幅／段差／R／位置決め／ギャップ |
|---|