ナノ・マイクロ・ミリ
すべての測定は
これ1台で完結する。 新商品 白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡 VK-X3000シリーズ

一平面に、Z軸位置毎の反射光量情報を得ることで、反射光量が最も高いZ軸位置（=焦点位置）や、その際の反射光量・色情報を取得します。
これらの情報を基に“カラー超深度” “光量超深度” “高低”の3種類の画像データを構築します。

CMOS素子で光の干渉パターンを観測し、3次元形状を求めます。
対象物と基準平面鏡からの反射光同士を干渉させることで現れる干渉縞を、560万画素高精細カラーC-MOSカメラを用い、表面形状を測定します。

被写界深度を基に決められた移動ピッチで対物レンズを動かし、560万画素高精細カラーC-MOSカメラで捉えた高画質画像のフォーカス変化（映像のボケ具合）を検知し、ピントが合った位置を求めます。
対象物の一部にピントが合った画像を重ね合わせることで、全体に焦点が合った観察画像を合成することができます。