新商品 白色干渉計搭載レーザ顕微鏡 VK-X3000シリーズ

トリプルスキャン方式が 「測れない」をなくす

サンプルワークの素材や形状・測定範囲に合わせてレーザ共焦点・白色干渉・フォーカスバリエーションの3つの異なるスキャン原理を選択し、高精度に測定ができます。

白色干渉
レーザ共焦点
フォーカスバリエーション

最高分解能0.01nm

ナノレベルの微小な形状変化であっても正確な測定が可能に。 また、鏡面体・透明体のような難易度の高い素材でも高速・高精度・広範囲の測定を実現します。

段差の激しい凹凸や 広範囲の測定も

最大スキャンエリア50mm角。 大きな凹凸や手のひらにサイズも丸ごとスキャン。全体形状も部分形状も両方、1台で把握できます。

高倍率でも、低倍率でも。フラットでも、凸凹でも。

対象物を選ばない、測定対応力

詳しくは、ぜひカタログをご覧ください。