金属箔・アモルファスリボンの厚みを正しく測れないと起きる3つの課題
走行する不透明・極薄の箔の厚みばらつきは特性・歩留まりに直結します。従来方式には、それぞれ現場での限界があります。
厚みばらつきが特性・歩留まりに直結
アモルファスリボンや磁性材料箔は、厚みが磁気特性や積層特性に影響し、ばらつくと規格外や後工程不良の原因になります。走行中に検知できないと、巻取り後や最終製品で不良として顕在化し、原反ロスとクレームを招きます。全長・全数で厚みを管理することが品質の要になります。わずかな厚みの傾向変化も大量の不良となって流出し、歩留まりとコストを大きく圧迫します。
不透明・極薄で従来手段が使いにくい
金属箔は不透明のため透過光や分光干渉が使いにくく、極薄・光沢面は反射条件がシビアで、単純な反射方式では安定しません。表面のうねりや走行時のばたつきも誤差要因となり、測定の信頼性が下がります。非接触で走行箔の総厚を安定して捉えられる手段が求められています。反射が不安定なまま測れば、良品まで排除したり不良を見逃したりと、品質管理を損ないます。
接触式・放射線式には現場での限界がある
接触式マイクロメータは走行を止める必要があり、軟らかい箔ではキズや変形を招きます。β線・X線厚み計は放射線管理や設置制約を伴い、導入・運用のハードルになります。走行を止めず、放射線を使わずに全数で厚みを測れる非接触手段が求められています。局所的な厚み変化を見逃せば、後工程・最終製品で不良として顕在化し、手戻りとクレームの原因になります。
走行箔の厚み測定ポイント
巻出しから記録まで、上下2ヘッドの差分で走行する不透明・極薄の箔の総厚を非接触・全数で管理します。
巻出し・搬送
巻出した箔を搬送しながら上下2ヘッドの間を通します。専用治具で上下ヘッドの光軸を合わせ、挟み込み測定の準備をします。
上下差分で総厚測定
上下2ヘッドで箔の上面・下面までの距離をマルチカラー共焦点方式で測定し、差分から走行箔の総厚を算出。1台のコントローラで全ヘッドを同期測定します。
光沢・ばたつきに強い測定
マルチカラー共焦点方式と良好な角度特性により、光沢面や傾いた面、ばたつく走行箔でも戻り光を安定して捉えて測定します。
記録・全数管理
全長にわたり厚みを記録し、ばらつきや局所的な厚み変化を検知。走行を止めず全数で品質を管理します。
金属箔・アモルファスリボンの厚み測定方式の比較
測定方式によって、非接触性・不透明箔への適性・走行中の全数管理・放射線の要否などに大きな差があります。
| 比較項目 | CL-3000シリーズ （マルチカラー共焦点・上下2ヘッド挟み込み／非接触） |
接触式マイクロメータ | β線・X線厚み計 |
|---|---|---|---|
| 非接触・箔への影響 | ○ 非接触でキズなし | × キズ・変形のおそれ | ○ 非接触 |
| 不透明・光沢な箔への適性 | ○ マルチカラー共焦点で光沢面も安定 | ○ 材質を問わない | ○ 材質を問わない |
| 走行中・全数インライン | ◎ 走行を止めず全数 | × 停止・抜き取り | △ 構成・設置に依存 |
| 放射線管理・設置制約 | ○ 放射線不要 | ○ 放射線不要 | × 放射線管理・設置制約 |
| 役割（得意領域） | 走行する不透明・極薄箔の総厚（全数） | 静止した箔の厚み | 材質を問わない厚み |
CL-3000シリーズを選ぶ理由
CL-3000シリーズはマルチカラー共焦点方式で光沢面やばたつく走行箔でも戻り光を安定して捉え、専用治具で光軸を合わせた上下2ヘッドの挟み込み差分で不透明・極薄の箔の総厚を非接触測定します。走行を止めず全数管理でき、放射線も使わないため、接触式のキズ・停止やβ線・X線式の設置制約を避けられます。
金属箔・アモルファスリボンの厚み測定に対応するCL-3000シリーズ
マルチカラー共焦点方式のレーザ同軸変位計。上下2ヘッドの差分で走行箔の総厚を非接触で測定します。
マルチカラーレーザ同軸変位計
CL-3000シリーズ
ブルーレーザを赤と緑を同時発光する蛍光体に照射してマルチカラー光を生成し、波長ごとに焦点距離の異なる光を同軸で投光。最も焦点が合った波長の光だけがピンホールを通過し、Quad CMOSで受光する「マルチカラー共焦点方式」により、材質を選ばず1つのセンサヘッドで高精度に距離を測定します。光軸が同軸のため、光沢面や傾いた面でも戻り光を安定して捉えます。金属箔・アモルファスリボンの厚み測定では、箔を挟むように配置した上下2ヘッドの差分から走行する不透明・極薄の箔の総厚を非接触で算出。専用治具とPCソフトの光軸合わせ機能で挟み込み測定の設置誤差を抑え、良好な角度特性でばたつく走行箔も安定測定します。1台のコントローラで全ヘッドを同期測定でき、走行を止めず全長・全数で厚みを管理。放射線を使わないため設置・運用の制約も抑えられ、アモルファスリボンや磁性材料箔の製造・加工ラインのインライン厚み管理に活用できます。
CL-3000シリーズの詳細資料を入手する
仕様・システム構成・導入事例をまとめたカタログを無料でダウンロードできます。
金属箔・アモルファスリボンの厚み測定の活用例
アモルファスリボン・磁性材料箔など、さまざまな走行する不透明・極薄の箔の厚み測定で活用されています。
箔の厚み測定
異種金属を貼り合わせた箔の厚みを、上下のセンサヘッドで箔を挟み込む調整治具を介して測定。光軸ズレによる誤差の影響を抑え、高精度に測定します。
箔のばたつき検査
塗工前の箔のばたつきを検査。角度特性の良いCL-3000シリーズなら箔がばたついても問題なく測定でき、塗工品質を向上できます。
電極塗布厚み測定
電極塗布後の厚みを非接触で測定。光沢がある箔と表面が粗い塗布面など、あらゆる材質を高精度に測定します。
金属箔・アモルファスリボンの厚み測定（CL-3000シリーズ）に関するよくあるご質問
- 不透明な金属箔でも厚みを測れますか？
- 測れます。CL-3000シリーズは箔を挟む上下2ヘッドの挟み込み差分で総厚を求めるため、透過光が使えない不透明・極薄の金属箔でも走行状態のまま非接触で厚みを測定できます。
- アモルファスリボンの光沢面・極薄でも安定しますか？
- 安定します。マルチカラー共焦点方式のため、光沢面や傾いた面でも戻り光を安定して捉え、良好な角度特性で走行時のばたつきの影響も抑えて測定します。
- 銅箔・電極箔の厚み測定にも使えますか？
- 使えます。電池部材（銅箔・電極箔）の厚み測定については電池部材の厚み測定（CL-3000シリーズ）でも詳しくご紹介しています。あわせてご覧ください。
- 挟み込みの上下ヘッドの光軸合わせは難しくありませんか？
- 専用治具とPCソフトの光軸合わせ機能で、基準ワークを挟んで粗調整・精密調整を行う手順で簡単に光軸を一致させられます。設置誤差を抑え、高精度な挟み込み厚み測定が可能です。
- β線・X線厚み計と比べたメリットは？
- CL-3000シリーズは放射線を使わないため、放射線管理や設置制約を抑えられます。走行を止めず非接触で総厚を全数測定でき、運用のハードルを下げられます。
金属箔・アモルファスリボンの厚み測定の課題、お気軽にご相談ください
測定方式・設置構成・仕様についてはカタログまたはお問い合わせフォームからご確認いただけます。