ICチップの浮き・表裏・OCR検査

LJ-S8000シリーズは光切断光学系を独自技術によって構築したオートスキャン機構でスキャンさせることで、高さ情報と濃淡情報を同時に取得することが可能です。従来おこなっていた濃淡検査はそのままに、高さ検査も同時に実施可能で安定性の向上やより幅広いアプリケーションへの対応に貢献します。有無、カウント、OCR、QRコードの読み取りなども可能。