測定器の種類

透過型寸法測定器

Green-LED 投影方式

【原理】
Green-LED 光を均一な平行光にして照射。CMOS 上に届いた光の明暗のエッジ位置を検出し、外径などの測定値を算出します。
(A) モニタCMOS ワークをモニタし、傾き補正もできるCMOS
(B) 高速露光CMOS 積分アンプをONチップ化した、専用設計の測定用CMOS
(C) 投受光位置測定CMOS 投光部と受光部間の位置を測定するCMOS
(D) 高輝度 Green-LED 「長寿命」「高輝度」「光量ムラがない」3つの特長を兼ね備えたLED
(E) 高効率集光ユニット LEDの光を効率よく集光するレンズユニット

レーザスキャン方式

半導体レーザをモータにより回転するポリゴンミラーに照射させることで、測定範囲をスキャンします。
対象物により遮断されたレーザ光の明暗の時間差を測ることにより、外径などの測定値を求めます。

レーザスキャン方式の原理図

Wテレセンシルエット方式

投光部からグリーンLEDの平行光を照射し、受光部で陰影をCMOSに結像。結像された情報から寸法などの測定をおこないます。投光側・受光側、両方にテレセントリックレンズを搭載し、光の平行性を極めたことで、高い安定性と精度を実現しました。

A
投光側テレセントリックレンズ
B
高輝度InGaNグリーンLED
C
受光側テレセントリックレンズ
D
高感度・高解像度CMOS

寸法 / 外径 / 投影画像測定器の商品一覧はこちら

測り隊.com トップへ戻る