形状解析レーザ顕微鏡 VK-X シリーズ

形状解析レーザ顕微鏡 VK-X シリーズ

“レーザー光源”と“白色光源”の2つの光源を内蔵した、形状解析レーザ顕微鏡。超高解像度スキャンにより、SEMに匹敵する倍率と解像度の画像が取得できます。

  • 新ツールにより表面の”違い”を見える化
  • 1クリックだけ・分解能0.5ナノ・観察42~28800倍
VK-X シリーズ - 形状解析レーザ顕微鏡

こちらの商品は、生産終了となりました。以下の推奨代替機種をご覧ください。

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推奨代替機種

  • VK-X3000 シリーズ

    レーザー共焦点・白色干渉・フォーカスバリエーションの3つの異なるスキャン原理を使い分け、さまざまな対象物を高精度に測定・解析することができます。

    VK-X3000 シリーズ - 白色干渉計搭載 レーザ顕微鏡