【新商品情報】 高精度に“瞬間3D測定”白色干渉3D変位計「WI-5000シリーズ」発売。詳細は こちら!

形状解析レーザ顕微鏡
VK-X シリーズ
ISO-25178 表面性状計測モジュール VK-H1XR

ダウンロード
  • マニュアル
  • CAD
  • ソフト
  • 仕様PDF
  • 3D-PDF
Webからのお問い合わせ
お問合せ
価格・見積
テスト機

FS-H1D - ドキュメント作成管理ソフトウェア

仕様

型式

VK-H1XR

品名

ISO-25178 表面性状計測モジュール

概要

解析アプリケーション VK-H1XA の機能を拡張するアプリケーションです。
ISO-25178規格に準拠した表面粗さ解析ソフトウェア。粗さの向きや相関性など多彩な表面性状解析が可能。

対応OS

Windows7 Professional 32bit/64bit Windows Vista Business SP1

CPU

Intel Core2 Duo E6300以上

メモリ

2GB以上

お問い合わせ内容 必須

氏名(姓)(必須)
氏名(名)(必須)
会社名、勤務先(必須)
メールアドレス(必須)
電話番号(必須)
--
郵便番号(必須)
-
最新情報ご案内(任意)
承諾/すでに受け取っている

次へ

お急ぎの場合はお電話でもどうぞ
0120-122-134

個人情報・お客様情報保護方針