電子デバイス業界
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コイルのデジタルマイクロスコープでの観察・測定 -
パワー半導体（パワーデバイス）のデジタルマイクロスコープでの観察・測定 -
LEDのデジタルマイクロスコープでの観察 -
実装基板・電子部品の故障解析・不良解析 -
めっき不良の種類・原因と観察・評価の課題解決 -
ワイヤーハーネス・圧着端子の観察と定量評価 -
コネクタの導通不良などの不具合原因と観察・測定 -
半導体ウェハ・ICパターンの顕微鏡的観察と測定 -
はんだのクラック・ボイドなど不良の観察・測定 -
ウィスカの発生原因と試験、観察・評価の課題解決 -
リチウムイオン電池・次世代電池における最新の観察と解析 -
太陽電池の評価における観察と解析 -
クリームはんだの塗布状態の観察と3次元寸法測定 -
プリント基板のスルーホールやランドの観察・測定 -
プローブカード/コンタクトプローブの観察・測定 -
BGA（バンプ）のデジタルマイクロスコープでの観察・測定 -
ワイヤーボンディングのデジタルマイクロスコープでの観察・測定
