制御テストダイナミック点灯入力
テンプレート説明
テスト対象機器からのダイナミック点灯制御信号(Digit選択 + Segment)をレコードし、各Digitアクティブ時のSegmentパターンから表示文字を算出し、ログ出力します。
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1
Digit選択/Segment同時キャプチャ
Digit選択GPI(4本)とSegment GPI(a〜g+dpの8本)を同期して試験秒数分まとめてサンプリングし、波形を記録します。 -
2
Digitアクティブ区間検出
①で取得したDigit波形から、各DigitがHighになっている区間を抽出します。 -
3
Segment逆引き・表示文字列ログ出力
②の各区間の中央サンプルでSegment 8本のビットパターンを取り出し、文字テーブルから0〜9に逆引きしてサイクルごとの表示文字列を経過時刻付きでログ出力します。
・スロット1:DIOユニット(TC-IFDIO) ※1
※1 ユニットを別スロットへ変更する場合、ユニット設定のスロット割り付け変更を行うことで、設定値などを引き継ぎ可能です。
接続図
TC-3000のGPIでテスト対象機器のDigit選択線とSegment出力線をまとめてレコードし、波形解析で表示文字列を復元します。
※ Digit/Segment本数は実機の表示器に合わせて変更してください。
※必ずGNDは接続してください。
タイミングイメージ
Digit1〜4が1つずつ順番にHighになり、各Digit High期間の中央サンプルでSeg(a〜g, dp)のビットパターンを読み取って表示文字に逆引きします。
4桁("0123")表示の例。Seg-a・Seg-e・Seg-g の3本を代表として示しています。赤点線がサンプリング位置(各Digit High期間の中央)です。
設定変数
全設定変数を記載しています。実機の仕様に合わせて変更してください。
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変数名 |
内容 |
初期値 |
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使用するユニットのスロット番号。使用するユニットに応じて変更。 |
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Digit選択受信に使用するGPIチャンネルリスト |
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Segment受信に使用するGPIチャンネルリスト(a, b, c, d, e, f, g, dp の順で並べる) |
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解析する桁数 |
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キャプチャする試験秒数 (s)。100万サンプル上限で自動短縮されます |
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Segmentビット列(a〜g, dpの8桁文字列)から表示文字への逆引きマップ。未登録のパターンは生ビット列で出力されます。 |
サンプル有 |