制御テストダイナミック点灯入力

テンプレート説明

テスト対象機器からのダイナミック点灯制御信号(Digit選択 + Segment)をレコードし、各Digitアクティブ時のSegmentパターンから表示文字を算出し、ログ出力します。

 

  • 1 Digit選択/Segment同時キャプチャ
    Digit選択GPI(4本)とSegment GPI(a〜g+dpの8本)を同期して試験秒数分まとめてサンプリングし、波形を記録します。
  • 2 Digitアクティブ区間検出
    ①で取得したDigit波形から、各DigitがHighになっている区間を抽出します。
  • 3 Segment逆引き・表示文字列ログ出力
    ②の各区間の中央サンプルでSegment 8本のビットパターンを取り出し、文字テーブルから0〜9に逆引きしてサイクルごとの表示文字列を経過時刻付きでログ出力します。
初期ユニット配置
 ・スロット1:DIOユニット(TC-IFDIO) ※1

※1 ユニットを別スロットへ変更する場合、ユニット設定のスロット割り付け変更を行うことで、設定値などを引き継ぎ可能です。

接続図

TC-3000のGPIでテスト対象機器のDigit選択線とSegment出力線をまとめてレコードし、波形解析で表示文字列を復元します。

※ Digit/Segment本数は実機の表示器に合わせて変更してください。

TC-3000 DIOユニット(TC-IFDIO) GPI1〜GPI4(Digit選択受信) 4桁分 GPI5〜GPI12(Segment受信) a〜g, dp Luaスクリプト print: "0123" テスト対象機器 Digit選択 出力 Segment 出力(a〜g, dp) Microcontroller CPU ① Digit選択 受信 ② Segment 受信

 ※必ずGNDは接続してください。

タイミングイメージ

Digit1〜4が1つずつ順番にHighになり、各Digit High期間の中央サンプルでSeg(a〜g, dp)のビットパターンを読み取って表示文字に逆引きします。

 

4桁("0123")表示の例。Seg-a・Seg-e・Seg-g の3本を代表として示しています。赤点線がサンプリング位置(各Digit High期間の中央)です。

1サイクル(Digit1〜4を1巡) Digit1 Digit2 Digit3 Digit4 Seg-a Seg-e Seg-g 解析結果 "0" "1" "2" "3" ← 1サイクル分のみマーク(実際は秒数分の繰り返しから全サイクルを抽出)

設定変数

全設定変数を記載しています。実機の仕様に合わせて変更してください。

変数名

内容

初期値

SLOT

使用するユニットのスロット番号。使用するユニットに応じて変更。

DIO1

DIGIT_CHS

Digit選択受信に使用するGPIチャンネルリスト

{GPI1..GPI4}

SEG_CHS

Segment受信に使用するGPIチャンネルリスト(a, b, c, d, e, f, g, dp の順で並べる)

{GPI5..GPI12}

NUM_DIGITS

解析する桁数

4

TEST_DURATION_S

キャプチャする試験秒数 (s)。100万サンプル上限で自動短縮されます

5

SEG_TO_CHAR

Segmentビット列(a〜g, dpの8桁文字列)から表示文字への逆引きマップ。未登録のパターンは生ビット列で出力されます。

サンプル有
(0〜9+空白を定義済)