制御テストキースキャン入力

テンプレート説明

TC-3000が走査パルスを順次出力しながら応答をレコードします。計測終了後に全スキャンサイクルを解析してキー押下イベントをログ出力します。

 

  • 1 走査パルス出力
    走査パルス出力に割り当てたGPOを1本ずつアクティブレベルにし、他のGPOは非アクティブに保持します。
  • 2 検出入力同時読み取り
    ①の各走査パルス出力中に検出入力に割り当てたGPI全てを同時にサンプリングし、試験秒数分の波形を記録します。
  • 3 キー押下解析・ログ出力
    ①②のキャプチャ完了後、各走査パルスアクティブ区間中の検出入力がアクティブとなったキー押下イベントを経過時刻付きで1件ずつログ出力します。
初期ユニット配置
 ・スロット1:DIOユニット(TC-IFDIO) ※1

※1 ユニットを別スロットへ変更する場合、ユニット設定のスロット割り付け変更を行うことで、設定値などを引き継ぎ可能です。

接続図

TC-3000のGPOから走査パルスを1本ずつ出力し、GPIで各検出入力のキー押下応答を同時に読み取ります。

※ 走査パルス/検出入力の本数は実機のキーマトリクスに合わせて変更してください。

TC-3000 DIOユニット(TC-IFDIO) GPO1(走査パルス1) GPO2(走査パルス2) GPO3(走査パルス3) GPO4(走査パルス4) GPI1(検出入力1) GPI2(検出入力2) GPI3(検出入力3) GPI4(検出入力4) テスト対象機器 (4×4 キーマトリクス) Col1 Col2 Col3 Col4 Row1 Row2 Row3 Row4 ① 走査パルス順次出力 ② 検出入力読み取り

 ※必ずGNDは接続してください。

タイミングイメージ

走査パルスを順番に1本ずつアクティブにし、各走査パルス期間の中央で全ての検出入力を読み取って押下キーを判定します。

 

走査パルス4本/検出入力4本の例。走査パルス1→2→3→4の順に1サイクル分を示しています。

GPO1 (走査パルス1) GPO2 (走査パルス2) GPO3 (走査パルス3) GPO4 (走査パルス4) GPI1〜4 (検出入力1〜4) 走査パルス1 検出入力読取 走査パルス2 検出入力読取 走査パルス3 検出入力読取 走査パルス4 検出入力読取 押下キーを1イベントずつ経過時刻付きでログ出力

設定変数

全設定変数を記載しています。実機の仕様に合わせて変更してください。

変数名

内容

初期値

SLOT

使用するユニットのスロット番号。使用するユニットに応じて変更。

DIO1

ROW_CHS

走査パルス出力に使用するGPOチャンネルリスト(順番に1本ずつ出力)

{GPO1..GPO4}

COL_CHS

検出入力に使用するGPIチャンネルリスト(全て同時に読み取り)

{GPI1..GPI4}

SCAN_INTERVAL_MS

1行をアクティブにする時間 (ms)。対向側の応答時間より十分長く設定すること

20

TEST_DURATION_S

キャプチャする試験秒数 (s)。100万サンプル上限で自動短縮される

10

ACTIVE_LEVEL

アクティブレベル。1 = Highアクティブ、0 = Lowアクティブ

1

KEY_MAP

Row/Colの交点ごとにキー名(文字列)を割り当てるマップ。押下イベントはここで定義したキー名でログ出力されます。空テーブルにすると RowN-ColM 形式で出力されます。

サンプル有
(4×4テンキー定義済)