異常系テストモンキーテスト(キースキャン)

テンプレート説明

TC-3000をキーボードエミュレーターとして動作させ、走査パルスに応じたランダムな応答信号を返します。設定した回数に到達したタイミングで出力内容をログ出力します。

 

  • 1 走査パルス監視
    テスト対象機器 から入る走査パルスを GPI で継続的に読み取り、現在アクティブな行を特定します。
  • 2 ランダム押下パターン更新
    ①の走査周期ごとに、押下キーパターンをランダムに更新します。同時押下数は 0 から最大値の間でランダムに決まります。
  • 3 応答信号出力
    ②で更新された押下パターンに従い、①でアクティブと検出された行に対応する応答信号を GPO から テスト対象機器 へ返します。
初期ユニット配置
 ・スロット1:DIOユニット(TC-IFDIO) ※1

※1 ユニットを別スロットへ変更する場合、ユニット設定のスロット割り付け変更を行うことで、設定値などを引き継ぎ可能です。

接続図

TC-3000 の GPI で テスト対象機器 の走査パルスを受け、押下パターンに従って GPO から応答信号を テスト対象機器 に返します。

TC-3000 Luaスクリプト 押下パターン(ランダム変化) C1 C2 C3 C4 ↑ ランダム変化 走査パルス 取込 応答信号 出力 DIOユニット(TC-IFDIO) GPI1~GPI4 走査パルス検出 GPO1~GPO4 応答信号出力 テスト対象機器 テスト対象機器 IO キースキャン制御MCU MCU キー走査 押下判定 走査パルス 4本出力 スキャン送出 応答信号 4本入力 押下検出 ① 走査パルス ② 応答信号

 ※必ずGNDは接続してください。

タイミングイメージ

テスト対象機器 は走査パルス1~4を順番にアクティブにし、TC-3000 は現在アクティブな行に対応する押下パターンを GPO1~4 へ同時に出力します。走査周期ごとに押下パターンがランダムに更新されます。

 

押下パターン A 押下パターン B(ランダム更新後) パターン更新 Target → TC-3000 GPI(走査パルス) 走査パルス1 走査パルス2 走査パルス3 走査パルス4 TC-3000 → Target GPO(押下パターンを反映した応答信号) GPO1 GPO2 GPO3 GPO4 時間 Row1走査 Row2走査 Row3走査 Row4走査 Row1走査 Row2走査 Row3走査 Row4走査

※ 走査パルス検知から応答出力までの時間は、装着するユニット構成、設定によって変動します。本テンプレートの初期設定の場合、最短で約3~5msです。

設定変数

全設定変数を記載しています。実機の仕様に合わせて変更してください。

変数名

内容

初期値

SLOT

使用するユニットのスロット番号。使用するユニットに応じて変更。

DIO1

ACTIVE_LEVEL

アクティブレベル。1 = Highアクティブ、0 = Lowアクティブ

1

ROW_CHS

テスト対象機器の走査パルスを読み取るGPIチャンネルリスト

{GPI1..GPI4}

COL_CHS

応答信号を出力するGPOチャンネルリスト

{GPO1..GPO4}

MAX_PRESSED

同時押下するキーの最大数。0〜MAX_PRESSEDの間でランダムに決定される

3

KEY_MAP

キー名マップ(ログ出力用)。KEY_MAP[行][列] に文字列でキー名を定義する

サンプル有
テスト対象機器 のキー配列に合わせて編集

MEASURE_COUNT

設定した回数分応答時間(走査パルス検知→応答出力)を計測する。

※応答時間は装着するユニット構成、スクリプトで処理する内容によって変動します。
テスト対象機器の走査パルス周期はmax値を参考に設定してください。

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