計測テストパルスカウント

テンプレート説明

テスト対象機器が出力するパルスをカウントし、計測終了後にカウント数をログ出力します。

 

  • 1 パルス波形キャプチャ
    GPIをRead取得してパルス列を一括取得します。
  • 2 パルスカウント
    ①で取得したパルス列から、立ち上がり(L→H)・立ち下がり(H→L)・両エッジから選択してカウントします。
  • 3 仕様照合
    ①②で得たカウント値を期待値の許容範囲と比較してPASS/FAILを判定します。
初期ユニット配置
 ・スロット1:DIOユニット(TC-IFDIO) ※1
ユニットの選択肢

 ・GPI/GPO:RIOユニット(TC-IFRIO)も利用できます。※2 ※3

※1 ユニットを別スロットへ変更する場合、ユニット設定のスロット割り付け変更を行うことで、設定値などを引き継ぎ可能です。
※2 スロットにユニットを取り付け・配線し、スクリプトのスロット設定を変更してください。
※3 RIOユニットは周期を100µs以上で設定ください。

接続図

テスト対象機器のパルス出力をTC-3000のGPIで取り込み、指定区間内のエッジ数をカウントします。

TC-3000 DIOユニット(TC-IFDIO) GPI1(パルス入力) テスト対象機器 (テスト対象機器) パルス出力 ① パルス出力

 ※必ずGNDは接続してください。

タイミングイメージ

サンプリング窓内で取得したGPI波形の立ち上がりエッジ数をカウント値として算出します。

 

GPI (パルス入力) RISE L→H エッジをカウント FALL H→L エッジをカウント BOTH L→H と H→L の合計をカウント

設定変数

全設定変数を記載しています。実機の仕様に合わせて変更してください。

変数名

内容

初期値

SLOT

使用するユニットのスロット番号。使用するユニットに応じて変更。

DIO1

PULSE_CH

パルス入力に使用するGPIチャンネル

GPI1

TEST_DURATION_S

計測時間(秒)。この時間分GPIをレコードしてパルスをカウントする(100万サンプル上限で自動短縮される)。計測したいパルスがすべて収まる時間に設定すること。

10

EDGE_MODE

カウント対象エッジ。"RISE"=L→H、"FALL"=H→L、"BOTH"=両エッジ

"RISE"

COUNT_EXPECTED

パルスカウントの期待値

100

COUNT_MARGIN

期待値に対する許容誤差(カウント数)

0

判定条件

以下の条件を満たした場合にPASSと判定します。

判定項目

合格条件

パルスカウント

カウント値と COUNT_EXPECTED の差が COUNT_MARGIN 以内であること