半径（R）・内径測定の最適な測り方は、測定器の種類、設置環境など様々な要素から選択することが重要です。 適さない機器を選定してしまうと、必要な精度が出なかったり、運用工数アップに繋がってしまいますので、避けたいものです。
このページでは半径（R）測定器／内径測定器をお探しの方が、迷わずに最適な測定器に辿り着けるよう、ナビゲートいたします。
「半径（R）・内径」の最適な測り方を測定器のご提案とあわせて紹介します。
測定例：ドラム缶の巻締R測定
ラインレーザを照射し、得られた形状から半径（R）を測定します。
外部で近似Rを演算させることなく、ダイレクトに半径（R）を測定できます。
2次元三角測距方式
ラインレーザによる多点測定
世界最速 64000撮像／秒
マルチカラー共焦点方式
直線性：±0.09um
超小型レーザ同軸変位計
測定例：ベアリングの内径測定
2次元投影方式で得られた画像から、内径を測定します。
ワークの位置がずれても、位置補正機能により正しくRを測定できます。
Wテレセンシルエット方式
インラインでシルエット内のあらゆる測定・検査が可能
測定例：円筒ブロックの内径測定
このページでは、ドラム缶の巻締Rやベアリングの内径・円筒ブロックの内径などを測る方法と測定器の構造、さらに測定器を選定するときのポイントや注意点について説明しました。
それらをまとめると、以下の通りです。
測定する対象によって、その方法はさまざまです。最適な測定を行うには、それらの特徴を知り、正しく測定器を選定することが大切です。
このページで紹介した内容や、他のページに記載している測定の知識や事例についてまとめた資料「測り方がわかる 変位計/測定器 サポートガイド」は、下記からダウンロードできます。レーザ変位計のラインナップカタログとあわせてご覧ください。
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超高精細インラインプロファイル測定器
業界最高3200point/profileの超高精細測定を実現した、超高精細インラインプロファイル測定器 LJ-X8000シリーズは、“ありのままの形状”を正確に捉えて、高度な3次元検査を実現するレーザ変位計（2次元・3次元）です。超高精細でありながら、最速16kHzの高速サンプリングを実現。また、ライン搬送中の位置ズレやバタつきなど全方向へのズレを検出し、自動補正して測定できるため、位置揃えに手間取ったりライン搬送を止めたりすることなく安定した自動全数検査が実現します。しかも、高精細と扱いやすさを両立。たった3つのステップで簡単に設定が完了するため、導入や段取り替えの工数を大幅にカットできます。
インライン投影画像測定器
インライン投影画像測定器 TM-X5000シリーズは、ラインの動きを止めることなくワークのシルエットを捉え、高速かつ正確な測定を実現します。投光側・受光側ともにテレセントリック光学系を採用することで、エッジをシャープに撮像。対象物の位置ズレがおきても精度が変化せず、被写界深度最大±20mmでスペックを保証します。ひずみの少ない低ディストーションレンズと独自アルゴリズムにより、照明・対象物の位置調整やキャリブレーションが不要。校正証明書の発行も可能です。組み合わせが100通りを超える豊富な測定を実現するツールを用意し、寸法測定・幾何公差測定・マスター比較・異物距離測定など、インライン検査に必要とされる内容に簡単設定で対応します。
マルチカラーレーザ同軸変位計
マルチカラーレーザ同軸変位計 CL-3000シリーズは、対象物の材質や形状を選ばず高精度測定を可能とする超小型な新方式の1次元レーザ変位計です。レーザー光源などの部品はすべて光学ユニットに搭載し、ヘッド内部の部品をレンズのみにしたことで、発熱や電気ノイズなどの影響を受けず、高精度な測定を実現。最小ø8mmの小型・軽量なヘッドは設置の自由度が高く、ロボットに装備したり、従来は困難だった装置の狭いスペースにも取り付けたりすることが可能です。また、曲面・凹み・高低差などさまざまな形状、さらには、透明・鏡面・金属粗面・セラミック・接着剤などのほか、光が多重反射したり・沈み込んだりする対象物であっても高い精度で測定します。真空環境・防爆環境・高温環境で使用できるセンサヘッドもラインナップ。高精度にインライン厚み測定が行える専用治具も準備しています。
分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器
分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-T1000シリーズは、単層から多層までインラインでの安定したフィルム膜厚測定が可能です。安全なSLD（近赤外）光源を搭載した分離型の分光ユニットで、誤差の原因となる電気/磁気ノイズや発熱をゼロにしました。最小ø8mm・重量約70gの小型・軽量なヘッドは設置性に優れ、偏波保持ファイバの採用により、高速なトラバース（TD）測定でファイバが動いても測定値がバラつきません。また、サンプリングごとに受光データを指定回数分積算する光量積算機能で、粘着層のような粗い表面の膜厚も安定測定が可能です。さらに、SLDの発光パルス幅を自動制御し、反射率が安定しないフィルムも誤差なく測定できます。
