反射型で測る
測定例：高精度ローラの偏心測定
用途から選ぶ
偏心
偏心測定器をお探しの方へ
偏心測定の最適な測り方は、測定器の種類、設置環境など、いくつかの要素から選択することが重要です。 適さない機器を選定してしまうと、必要な精度が出なかったり、運用工数アップに繋がってしまいますので、避けたいものです。
このページでは偏心測定器をお探しの方が、迷わずに最適な測定器に辿り着けるよう、ナビゲートいたします。
「偏心」の測り方
「偏心」の最適な測り方を測定器のご提案とあわせて紹介します。
透過型で1点で測る
測定例：モーターシャフトの偏心測定
最適な測定器透過型寸法測定器
ロールのエッジ位置の変動を高速サンプリングで捉えます。
POINT
- ピークtoピークホールド機能などを利用して、振れ量のp-p値を求めます。
- 回転速度の10倍以上のサンプリング速度で測定することが必要です。
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1次元テレセントリック方式
駆動部分を排除した長寿命設計
クラス最速16kHzサンプリング
透過型で複数点で測る
測定例：スポンジローラの偏心測定
最適な測定器透過型2次元寸法測定器
2次元投影方式で得られた画像から、指定した複数ポイントの位置の変動を求めることで偏心量を測定します。
POINT
- 円周上に切られたV溝や突起部の振れ測定ができます。
- 端から決まった距離の点の振れ測定ができます。
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Wテレセンシルエット方式
インラインでシルエット内のあらゆる測定・検査が可能
まとめ
このページでは、回転するローラやシャフトの偏心を測る方法と測定器の構造、さらに測定器を選択するときのポイントや注意点について説明しました。
それらをまとめると、以下の通りです。
- 偏心の測定には、円周上の1点の距離やエッジの位置の変動をサンプリングする方法と、指定した複数ポイントの位置の変動を測定する方法がある。
- 距離やエッジの位置の変動をサンプリングする場合、回転速度の10倍以上のサンプリング速度が必要。
- 透過型2次元寸法測定器なら、指定した複数ポイントの位置の偏心量を測定可能。
- 最適な測定器の選定は、回転数とサンプリング速度の関係、測定位置がポイントになる。
測定する対象によって、その方法はさまざまです。最適な測定を行うには、それらの特徴を知り、正しく測定器を選定することが大切です。
このページで紹介した内容や、他のページに記載している測定の知識や事例についてまとめた資料「測り方がわかる 変位計/測定器 サポートガイド」は、下記からダウンロードできます。レーザ変位計のラインナップカタログとあわせてご覧ください。
キーエンスの商品をご採用いただいたお客様の声はこちら
業界別お客様導入事例【偏心編】
用途・業界を選ぶだけ！最適な商品をご紹介します
レーザ変位計・測定器の選び方サイトはこちら
このページのまとめQ&A
- Q. 偏心測定で重要なポイントは何ですか？
- A. 対象物の回転数や測定方式に応じて適切な測定器を選ばないと精度が確保できず、サンプリング速度と設置条件が重要です。
- Q. 反射型で偏心を測る方法は？
- A. 回転体の頂点にレーザを当て、距離変動を高速サンプリングし偏心量を求めます。回転速度の10倍以上の速度が必要です。
- Q. 透過型で1点測定する方法は？
- A. エッジ位置の変動を高速サンプリングで捉え、p-pホールドで偏心量を算出します。高速応答が安定測定の鍵です。
- Q. 透過型で複数点測定する利点は？
- A. 複数ポイントの位置変動を同時に取得でき、V溝や突起部の偏心や端から一定距離の点も安定して測定できます。
- Q. 偏心測定器選定のポイントは？
- A. 測定位置、回転数、必要サンプリング速度を基準に選び、単点か多点か、反射型か透過型かを判断することが重要です。
キーエンスのレーザ変位計 / 膜厚測定器
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CL-3000 シリーズ
マルチカラーレーザ同軸変位計
マルチカラーレーザ同軸変位計 CL-3000シリーズは、対象物の材質や形状を選ばず高精度測定を可能とする超小型な新方式の1次元レーザ変位計です。レーザー光源などの部品はすべて光学ユニットに搭載し、ヘッド内部の部品をレンズのみにしたことで、発熱や電気ノイズなどの影響を受けず、高精度な測定を実現。最小ø8mmの小型・軽量なヘッドは設置の自由度が高く、ロボットに装備したり、従来は困難だった装置の狭いスペースにも取り付けたりすることが可能です。また、曲面・凹み・高低差などさまざまな形状、さらには、透明・鏡面・金属粗面・セラミック・接着剤などのほか、光が多重反射したり・沈み込んだりする対象物であっても高い精度で測定します。真空環境・防爆環境・高温環境で使用できるセンサヘッドもラインナップ。高精度にインライン厚み測定が行える専用治具も準備しています。
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SI-T シリーズ
分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器
分光干渉変位タイプ 多層膜厚測定器 SI-T1000シリーズは、単層から多層までインラインでの安定したフィルム膜厚測定が可能です。安全なSLD（近赤外）光源を搭載した分離型の分光ユニットで、誤差の原因となる電気/磁気ノイズや発熱をゼロにしました。最小ø8mm・重量約70gの小型・軽量なヘッドは設置性に優れ、偏波保持ファイバの採用により、高速なトラバース（TD）測定でファイバが動いても測定値がバラつきません。また、サンプリングごとに受光データを指定回数分積算する光量積算機能で、粘着層のような粗い表面の膜厚も安定測定が可能です。さらに、SLDの発光パルス幅を自動制御し、反射率が安定しないフィルムも誤差なく測定できます。
キーエンスの外径測定器
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LS-9000 シリーズ
超高速・高精度寸法測定器
超高速・高精度寸法測定器 LS-9000シリーズは、16000回/秒の高速サンプリングと±0.03μmの繰り返し精度、そして独自の光学設計により駆動部を排し長寿命な高輝度LEDを採用することで、高い耐久性を実現しました。高速性・高精度・高耐久性により、シーンやワークの材質を選ばず、インライン/オフラインで安定して測定可能です。3つのCMOSを搭載し、高速露光に対応しました。それにより、たとえば線材などのワークが振れてしまう場合もしっかり撮像でき、正確な測定が可能です。また、ワークの姿勢を認識して測定値を補正するため、傾きによる誤差が生じません。さらに、IP67の耐環境設計でエアパージユニットを標準搭載し、汚れや温度変化に強いため、さまざまな環境に対応します。
キーエンスの投影画像 / 寸法測定器
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TM-X5000 シリーズ
インライン投影画像測定器
インライン投影画像測定器 TM-X5000シリーズは、ラインの動きを止めることなくワークのシルエットを捉え、高速かつ正確な測定を実現します。投光側・受光側ともにテレセントリック光学系を採用することで、エッジをシャープに撮像。対象物の位置ズレがおきても精度が変化せず、被写界深度最大±20mmでスペックを保証します。ひずみの少ない低ディストーションレンズと独自アルゴリズムにより、照明・対象物の位置調整やキャリブレーションが不要。校正証明書の発行も可能です。組み合わせが100通りを超える豊富な測定を実現するツールを用意し、寸法測定・幾何公差測定・マスター比較・異物距離測定など、インライン検査に必要とされる内容に簡単設定で対応します。
